一、概述
X射線熒光光譜儀 XRF-W8是一種物理的元素分析方法,具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢,在電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)發(fā)揮了重大的作用。
XRF-W8是深圳市策譜科技有限公司自主研發(fā)、生產(chǎn)的新一代X射線熒光光譜儀,采用美國進口SDD探測器,元素測試范圍:從鎂Mg--鈾U的所有元素。
X射線熒光光譜儀 XRF-W8主要應用:
1、準確檢測歐盟RoHS指令限制的有害物質(zhì)ROHS檢測(鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價鉻Cr、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚),俗稱RoHS檢測儀;
2、無鹵指令,鹵素檢測;
3、玩具等行業(yè)限定的8大重金屬檢測,鎘(Cb)、鉛(Pb)、汞(Hg)、鉻(Cr)、銻(Sb)、砷(As)、鋇(Ba)、硒(Se);
4、各種合金成分分析,如:銅合金成份分析、不銹鋼成份分析、鐵合金成份分析等;
5、鍍層厚度分析,單層鍍層和多層鍍層厚度檢測,多檢測10層鍍層;
6、全元素分析,鎂Mg-鈾U,等等。