半導體器件靜電放電模擬器ESS-6008
針對于半導體器件設計的靜電放電模擬器，電壓大8000V測試電壓，小電壓輸出10V，可應用于企業(yè)的研發(fā)和品質上，適用于敏感產品的評價試驗。
符合標準
人體模型試驗 (HBM) | 機械模型試驗 (MM) |
AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003 | AEC-Q100-003-REV -E Jul.2003 |
ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001 | ESDA ANSI/ ESD STM5.2-1999 |
IEC61340-3-1Ed.1.0 2002 | IEC61340-3-2 Ed.1.0-2002 |
IEC60749-26 Ed.1.0 2003 | IEC60749-27 Ed.1.0 2003 |
JEDEC JESD22- A114E Jan.2007 | JEDEC JESD22- A115A Oct.1997 |
JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304 | JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 |
MIL-STD-883F 3015.7 Mar.1989 |
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產品特點：
模擬器小輸出電壓可達±10V，1V步進設定，適合用于敏感元件的評價試驗；（ESS-6008）
模擬器通過簡易放電板，使用IC放電夾可直接對被試品進行放電，也可使用半自動精密型探針臺，半自動化的對被試品進行定量的放電；
該模擬器可模擬人體放電（HBM）和機械放電（MM）；
模擬器能在端口間正確地施加相對應標準波形；
通過檢測主端口，可確認放電后被試品的特性變化情況；
用波形調整用卡可改變波形上升時間；（選件）
使用半自動精密型探針臺可做毫米與英寸間距的元器件腳針之間的測試；（選件）
規(guī)格：
項目 | 功能/性能 |
輸出電壓 | 10 ～ 8000±10%（ESS-6008） 1V步進 |
輸出極性 | 正或負 |
重復周期 | 0.3 ～ 99s±10% 到10s為止0.1s步進 10s以后1s步進 |
放電次數(shù) | 1 ～ 99次/連續(xù) |
外部觸發(fā)輸入 | 大 ±15V，BNC接口 通過TTL下降時間來控制（100us以上的LOW或者端口間短路） |
觸發(fā)輸出 | 輸出阻抗50Ω，TTL高脈沖5ms，BNC接頭 |
ITERLOCK | 端口臺、端口間開路時停止試驗（出貨時標配短路棒） |
驅動電源 | AC100 ～ 240V±10% 50Hz/60Hz |
功耗 | 25VA |
使用溫度范圍 | 15 ～ 35℃ |
保管溫度范圍 | -10 ～ 50℃ |
使用濕度范圍 | 25 ～ 75%RH（不結霜） |
保管濕度方位 | 0 ～ 85%RH（不結霜） |
尺寸 | （W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分） |
重量 | 約6kg |
附件：
商品名稱 | 數(shù)量 |
人體模型（HBM）放電探針（型號 01-00054A） | 1個 |
機械模型（MM）放電探針（型號 01-00055A） | 1個 |
電源線 | 1根 |
操作說明書 | 1份 |
對于半導體試驗*配置：
名稱 | 型號 | 描述 |
半導體器件靜電放電模擬器 | ESS-6008 | 半導體放電主機 |
簡易型探針臺 | 18-00075A | 放置或固定半導體的裝置 （選件） |
其他測試選件：
半自動精密型探針臺 | 18-00076A | 半自動化試驗使用的探針臺 （選件） |
波形調整用卡4張 | 06-00064A | 改變波形上升時間和周期的卡 （選件） |
2.54mm pitch型放電夾 | 08-00013A | 夾持端口和放電的夾子 （選件） |
0.3mm pitch型放電夾 | 08-00014A | 夾持端口和放電的夾子 （選件） |
文章來自辰儀科技（emcsys）
溫馨提示：NOISEKEN半導體器件靜電放電模擬器ESS-6002/6008已經停產，替代產品型號暫無。
