通過EFI（景深擴(kuò)展成像）功能，僅需點(diǎn)擊下鼠標(biāo)，DSX510便可獲得整個樣品都對焦清晰圖像。在EFI（景深擴(kuò)展成像）的過程中，隨著焦點(diǎn)位置上下移動，采集多張不同焦點(diǎn)位置圖像。在這些圖像中，樣品上聚焦清晰的各部分會被提取出來合成一幅整個樣品都聚焦清晰圖像，實(shí)現(xiàn)對凹凸不平的樣品的精確檢查。Olympus的EFI圖像采集速度比以往快了許多。
3D數(shù)碼顯微鏡DSX510
3D數(shù)碼顯微鏡DSX510 3D數(shù)碼顯微鏡DSX510
獲取超景深圖像或3D圖像
EFI: 即使表面凹凸不平的樣品，也可獲得整個樣品全部聚焦清晰的超景深圖像
電容
通過EFI（景深擴(kuò)展成像）功能，僅需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)，DSX510便可獲得整個樣品都對焦清晰圖像。在EFI（景深擴(kuò)展成像）過程中，隨著焦點(diǎn)位置的上下移動，采集多張不同焦點(diǎn)位置的圖像。在這些圖像中，樣品上聚焦清晰的各部分會被提取出來合成一幅整個樣品都聚焦清晰的圖像，實(shí)現(xiàn)對凹凸不平的樣品的精確檢查。Olympus的EFI圖像采集速度比以往快了許多。
3D圖像: 僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可顯示三維樣品
3D圖像
剖面圖
僅需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)，DSX510便可獲得樣品的三維圖像，從任意角度觀察樣品，都和樣品的真實(shí)形貌**。通過精細(xì)的3D影像，可以觀察或測量樣品表面的高度特征或凹凸程度。還可以測量高度差和體積，對樣品的精確分析變得更加容易。
新技術(shù)，帶來了新發(fā)現(xiàn)
高數(shù)值孔徑—低像差物鏡
通過比當(dāng)前的數(shù)碼顯微鏡數(shù)值孔徑更高、像差更小的物鏡、改進(jìn)后更均勻的照明光源，DSX510系列光學(xué)數(shù)碼顯微鏡的成像分辨率可與級的光學(xué)顯微鏡媲美。
IC芯片（物鏡NA 0.4） IC芯片（物鏡NA 0.8）
貝氏體鋼（物鏡NA 0.4） 貝氏體鋼（物鏡NA 0.8）
再現(xiàn)高分辨率的 1800萬像素影像*
變焦光學(xué)系統(tǒng)可涵蓋大范圍的放大倍率
寬變焦放大范圍：樣品看得更清楚
DSX510的變焦光學(xué)系統(tǒng)可提供高達(dá)13X的光學(xué)變焦和30X的數(shù)碼變焦。單個物鏡即可涵蓋傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的放大范圍。
樣品的變焦放大
可同時安裝兩個物鏡: 物鏡轉(zhuǎn)換
宏觀地圖：總是能發(fā)現(xiàn)目標(biāo)
各種各樣的觀察方法，可自由使用
快速簡便地獲取觀察需要的圖像
DSX510可提供各種各樣的觀察方法，呈現(xiàn)給用戶對的光學(xué)系統(tǒng)所期望的高分辨率圖像。
僅需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)便可選擇觀察方法
僅需鼠標(biāo)點(diǎn)擊一下按鈕便會在屏幕上呈現(xiàn)需要的圖像
僅需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)便可選擇幾乎所有的顯微觀察方法，DSX510使選擇正確的觀察方法變得簡單。無需復(fù)雜的調(diào)整——僅需簡單的在觀察方法（明場、暗場、MIX[明場+暗場]、微分干涉、偏振光）之間選擇，便可呈現(xiàn)滿足精確觀測所需的高品質(zhì)圖像。
*的圖像處理
HDR高動態(tài)范圍成像：超越人眼觀察效果的高品質(zhì)視覺呈現(xiàn)
樣品的成像效果依據(jù)材料的性質(zhì)、表面狀況或照明方法會有所不同。DSX110*的數(shù)碼圖像技術(shù)產(chǎn)生的多種觀察方法，呈現(xiàn)出超越人眼觀察效果的高品質(zhì)圖像。高動態(tài)范圍成像功能（HDR）將不同曝光度下獲取的影像合成，以精確地調(diào)整樣品表面不同區(qū)域的亮度差，呈現(xiàn)出亮度過渡更加精確真實(shí)的圖像效果。
液晶平板上的ACF各向異性導(dǎo)電膠
前往觀看相關(guān)視頻 >
WiDER: 可實(shí)時觀察同時存在高光區(qū)和低光區(qū)的樣品
色彩增強(qiáng)：僅看見需要看見的
任何人均可在條件下進(jìn)行觀察
優(yōu)化圖像功能確保了任何操作者都可獲得的操作結(jié)果
DSX110將會自動設(shè)置必要的參數(shù)來獲取圖像。無論是缺陷、凹凸的表面、th還at是異物，圖像優(yōu)化功能都確保能獲得的影像。通過圖像優(yōu)化功能，任何人均可操作該系統(tǒng)——無論是新手，還是專家——并且還可為每位操作者進(jìn)行用戶化定制
