一、卷繞式真空鍍膜在線檢測系統(tǒng)簡介
鍍膜厚度的縱向、橫向均勻度是鍍膜制品重要質(zhì)量和技術(shù)指標(biāo)。鍍膜產(chǎn)品的光密度(光密度 = LOG(1/透過率))和鍍層厚度成正比例關(guān)系，鍍層厚度越厚，光密度值越大，透過率值越低。所以可以通過測量鍍膜產(chǎn)品的光密度值來達(dá)到監(jiān)控鍍膜層的厚度的目的。
卷繞式真空鍍膜在線檢測系統(tǒng)，適用于各類鍍膜生產(chǎn)線，通過選擇監(jiān)控產(chǎn)品的可見光透過率，紅外線透過率和光密度值（OD），來達(dá)到在線檢測和分析產(chǎn)品鍍層厚度，鍍層厚度的均勻性等性能是否在工藝要求之內(nèi)。以便操作人員及時了解產(chǎn)品質(zhì)量，如有問題，及早發(fā)現(xiàn)及調(diào)整工藝，提高產(chǎn)品品質(zhì)，降低產(chǎn)品的廢品率。
二、LS152廣泛應(yīng)用于卷繞真空鍍膜，玻璃鍍膜，玻璃生產(chǎn)線，涂布生產(chǎn)線等。儀器特點(diǎn)：
? 模塊化設(shè)計，各模塊之間采用航空連接器連接，結(jié)構(gòu)簡單，現(xiàn)場安裝維護(hù)方便。
? 儀器具有溫度補(bǔ)償功能，數(shù)值穩(wěn)定，允許在高溫環(huán)境下使用。
? 防塵設(shè)計，對于鍍膜過程中的粉塵（如鍍鋁過程）會影響測量光學(xué)系統(tǒng)，該系統(tǒng)采用防塵設(shè)計，粉塵不會影響光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部。如有粉塵，只需要定期擦拭清潔光源探頭和接收探頭的鏡頭玻璃即可，方便維護(hù)。
? 真空室的電子設(shè)計，真空環(huán)境中，和大氣環(huán)境下有眾多的區(qū)別，經(jīng)過多次真空試驗和現(xiàn)場應(yīng)用，成功解決真空中電子器件的穩(wěn)定性問題。
? 此儀器提供雙路的RS485通信接口，標(biāo)準(zhǔn)的MODBUS通信協(xié)議，方便和PLC，單片機(jī)，人機(jī)界面，組態(tài)王，電腦等通信。鍍膜機(jī)可以直接讀取此設(shè)備的光密度數(shù)據(jù)，實現(xiàn)控制自動化(閉環(huán)控制)。
? 人機(jī)界面，所有測試點(diǎn)數(shù)據(jù)的實時監(jiān)控，包含實時顯示、柱狀圖、上下閾值設(shè)定、越限報警、RS485②通信參數(shù)設(shè)定等。透過率與光密度的顯示可自由切換。
? 儀器具有自動校準(zhǔn)功能和人工校準(zhǔn)功能，用戶可根據(jù)需要自由設(shè)置。
三、儀器結(jié)構(gòu)
設(shè)備分為三部分：測控主機(jī)、人機(jī)界面控制箱、電腦實時監(jiān)控軟件（選配）。
a) 測控主機(jī)主要包含光源探頭、接收探頭、控制器、鋁型材機(jī)架。
b) 人機(jī)界面控制箱主要包含人機(jī)界面、電源、不銹鋼箱體。
c) 電腦實時監(jiān)控軟件，所有測試點(diǎn)數(shù)據(jù)的實時監(jiān)控，包含實時顯示、柱狀圖、上下閾值設(shè)定、實時曲線，越限報警等。透過率與光密度的顯示可自由切換。
四、參數(shù)
1.測試波長：根據(jù)客戶需要選擇，目前有如下的選擇：
紅外線：850 nm（默認(rèn)選項，抗*力強(qiáng)）
綠光： 530nm
2.透過率測量精度：優(yōu)于±1%
3.透過率分辨率：0.005%
4.光密度測量范圍：0.00 OD --- 5.00 OD
5.光密度的分辨率：0.01 OD for 0.00 - 3.00 OD
0.05 OD for 3.00 - 5.00 OD
6.zui大測量點(diǎn)數(shù)：36點(diǎn)
7.相鄰探測頭之間距離：zui小70mm
8.發(fā)送接收探頭之間距離：20mm
9.溫度范圍： -20°C --- +70°C
10.數(shù)據(jù)刷新周期：300ms
11.測控主機(jī)尺寸： 80mm（寬）*180mm（高）* 長度(根據(jù)客戶要求定制)
12.需真空法蘭電極芯數(shù)：6根（不配電腦監(jiān)控），9根（配電腦監(jiān)控）
13.電源：220V AC/50Hz
14.通訊：雙路RS485
五、售后服務(wù)
生產(chǎn)商：深圳市林上科技有限公司
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產(chǎn)品鏈接：http://www.lstek。。ｃｎ/product/LS125.html
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