BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀，熱電材料塞貝克系數(shù)測試儀
關(guān)鍵詞：熱電材料，Seebeck系數(shù)，電導(dǎo)率， 電導(dǎo)率，V-1裝置
BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀，熱電材料塞貝克系數(shù)測試儀
關(guān)鍵詞：熱電材料，Seebeck系數(shù)，電阻率， 電導(dǎo)率，V-1裝置
產(chǎn)品介紹：
BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是我國熱電材料的設(shè)備，是國家材料計劃中zui前沿裝備，是我國科研人員幾十年的精心參與和設(shè)計出來的熱電材料測試儀，其測試性能遠(yuǎn)超越國內(nèi)外熱電材料測試儀，不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試，是目前國內(nèi)高等院校和
研究所的重要設(shè)備。
對于熱電材料的研究，熱電性能測試是*的試驗數(shù)據(jù)。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點如下:
該裝置由溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫，采用四點法的方式精確測定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
一、適用范圍：
1、測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。
3、塊體和薄膜材料測均可以測試。
4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
5、擁有自身分析軟件，獨立分析，過程自動控制，界面友好。
6、國內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。
7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域.
二、技術(shù)特點：
·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題，靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。
溫度檢測可采用J、K型熱電偶，降低測試成本。
·試樣采用*的焊偶機(jī)構(gòu)，保證接觸電阻zui小以及測量結(jié)果的高重現(xiàn)性。
每次可測試1-3個樣品.
采用高級數(shù)據(jù)采集技術(shù)，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差，可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率。
| BKTEM-D1 | BKTEM-D2 | BKTEM-D3 |
測量溫度 | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ |
同時測試樣品數(shù)量 | 1個 | 2個 | 3個 |
控溫精度 | 0.5K（溫度波動:≤±0.1℃） | ||
測量原理 | 塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法 | ||
測量范圍 | 塞貝克系數(shù)：0.5μV/K_25V/K；電阻系數(shù)：0.2Ohm-2.5KOhm | ||
分辨率 | 塞貝克系數(shù)：10nV/K;電阻系數(shù)： 10nOhm | ||
測量精度 | 塞貝克系數(shù)：＜±6％；電阻系數(shù)：＜±5％ | ||
樣品尺寸 | 塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長，薄膜材料：≥50 nm | ||
熱電偶導(dǎo)距 | ≥6 mm | ||
電 流 | 0 to 160 mA | ||
氣 氛 | 減壓He | ||
加熱電極相數(shù)/電壓 | 單相，220V， | ||
夾具接觸熱阻 | ≤0.05 m2K/W | ||
圖1 單一樣品測試系統(tǒng)原理示意圖
圖2 雙樣品測試系統(tǒng)原理示意圖
