BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)
關(guān)鍵詞：熱電，賽貝克系數(shù)，電阻率
BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)MRS-3RT專門針對常溫下薄膜材料的澤貝克系數(shù)和電阻率的測量儀器，采用動態(tài)法和四線法保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定，擁有寬廣的測試范圍和便捷的操作界面。
產(chǎn)品特點
● 專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量。
● 測試環(huán)境溫度范圍達(dá)到81K~700K。
● 采用動態(tài)法測 量Seebeck系數(shù)，避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差，測量更準(zhǔn)確。
● 采用四線法測量電阻率。
● 卡箍設(shè)計，方便進(jìn)行樣品更換，提高效率。
● 軟件操作簡單，智能化可實現(xiàn)全自動模式。
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
型號 | BKTEM-B1 |
溫度范圍 | RT |
測試氣氛 | 空氣 |
測量范圍 | 賽貝克系數(shù)：|S| ≥ 8μV/K 電阻率：0.1μΩ•m ~ 106μΩ•m |
分辨率 | 澤貝克系數(shù)：0.05μV/K 電阻率：0.05μΩ•m |
相對誤差 | 賽貝克系數(shù) ≤ ±7% 電阻率 ≤ ±10% |
樣品尺寸 | 長度:10mm~18mm；寬度:2mm~7mm；厚度：50nm~2mm |
主機(jī)尺寸 | 170x250x220（mm） |
重量 | 3.5kg |
