UVISEL自動超薄膜檢測
UVISEL自動超薄膜檢測光譜型相調制橢圓偏振儀(SPME)是一款*的儀器,它采用光彈性晶體來調制偏振光,而不是傳統(tǒng)橢偏技術中的機械偏光裝置。
相調制技術在性能上和多種實驗功能方面有著顯著的優(yōu)勢。
與傳統(tǒng)橢偏儀相比,UVISEL光譜型橢偏儀能夠在全譜范圍內測得非常準確的橢偏角(Y, D),從而可以對透明襯底、超薄薄膜和折射率接近的樣品進行高精度和高靈敏度的特性分析。
相調制技術的原理,使得UVISEL光譜型橢偏儀能夠進行*的參數(shù)測量,包括極化度、各向異性以及Mueller矩陣元素的確定。高達1毫秒/每數(shù)據(jù)點的快速數(shù)據(jù)采集速率,使得UVISEL成為動態(tài)研究和液態(tài)表面測量的理想解決方案。
UVISEL是一臺多功能的光譜型橢偏儀。它覆蓋了190nm到2100nm的寬光譜范圍,而且提供了一系列的自動選件和附件來增強系統(tǒng)的功能、滿足您的實驗需求。模塊化的設計使得UVISEL配置靈活,可以離線、在線甚至為減小占地面積和滿足超凈間要求而集成到一個機柜中。
特征:
- 光譜型相調制橢圓偏振儀
- 同類產(chǎn)品中的zui高精度和zui高靈敏度
- 寬光譜范圍:142到2100納米
- 模塊化設計
- 包含成熟的光譜型橢圓偏振儀軟件包