摘要測量主軸采用優(yōu)化方形設計，確保測量時運動性能的穩(wěn)定性；擁有多種功能強大的附件可選，能滿足不同測量要求；光柵照明系統(tǒng)采用低電壓、小電流、體積小、壽命 長的紅外發(fā)光器件做光源；儀器采用了高精密的測量系統(tǒng)，符合阿貝原理，測量精度高；采用進口光柵系統(tǒng)，精度高，穩(wěn)定可靠；測 量...

摘要 LS103A光學透過率測量儀 玻璃/太陽膜/鍍膜玻璃透光率檢測儀

摘要三維光學密集點云測量系統(tǒng)I0M400與傳統(tǒng)的三坐標測量儀和激光三維掃描儀相比，是一種高速高精度的三維掃描測量設備，系統(tǒng)具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點，系統(tǒng)的軟件和硬件可以根據(jù)需要專門進行開發(fā)和設計，技術(shù)實用性強，廣泛適用于各種需求三維數(shù)據(jù)的行業(yè)，如汽車工業(yè)、...

摘要 中圖臺式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

摘要 SuperViewW系列白光干涉儀三維表面測量系統(tǒng)以白光干涉技術(shù)為原理結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

摘要 CEM3000大樣品倉臺式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析，臺式掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結(jié)果。

摘要 不同于立式電鏡，CEM3000國內(nèi)高分辨率臺式掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結(jié)果。

摘要 光伏組件檢測儀內(nèi)置存儲空間，可以保存大量的EL圖像。通常采用可充電鋰電池供電，保證長時間工作。

摘要 el缺陷檢測儀支持連續(xù)拍攝模式，可以在短時間內(nèi)完成多塊組件的檢測。配備高靈敏度的攝像頭，能夠清晰地顯示細微的缺陷。

摘要 光伏板檢測儀器通常配有觸摸屏或簡單的按鈕控制，方便設置參數(shù)和啟動檢測。能夠迅速獲取高質(zhì)量的EL圖像，提高工作效率。

摘要 便攜式el檢測儀設計輕巧，便于攜帶到不同地點進行現(xiàn)場檢測。適合于戶外作業(yè)，適用于各種安裝環(huán)境下的光伏系統(tǒng)檢查。

摘要 SuperViewW非接觸式3D白光干涉儀基于白光干涉原理，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

摘要泰科納光學閃測儀采用直徑100mm大視野和雙遠心鏡頭，既可實現(xiàn)閃測儀大視野大范圍內(nèi)高速測量，又可以實現(xiàn)影像儀的微米級高精度測量。能夠快速對零件的二維幾何參數(shù)（如：長度、寬度、弧度、直徑、半徑、角度、孔距、對稱度等）進行非接觸式微米級測量。同時可以加裝電感側(cè)頭、光譜共聚...

摘要泰科納一鍵式閃測儀采用直徑100mm大視野和雙遠心鏡頭，既可實現(xiàn)閃測儀大視野大范圍內(nèi)高速測量，又可以實現(xiàn)影像儀的微米級高精度測量。能夠快速對零件的二維幾何參數(shù)（如：長度、寬度、弧度、直徑、半徑、角度、孔距、對稱度等）進行非接觸式微米級測量。同時可以加裝電感側(cè)頭、光譜共...

摘要 SuperViewW白光干涉微觀三維形貌測量儀測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

摘要 SuperViewW納米級微觀三維形貌3D白光干涉儀主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。它能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 SuperViewW高精度納米量級白光干涉測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

摘要泰科納雙視野閃測儀采用直徑100mm大視野和雙遠心鏡頭，既可實現(xiàn)閃測儀大視野大范圍內(nèi)高速測量，又可以實現(xiàn)影像儀的微米級高精度測量。能夠快速對零件的二維幾何參數(shù)（如：長度、寬度、弧度、直徑、半徑、角度、孔距、對稱度等）進行非接觸式微米級測量。同時可以加裝電感側(cè)頭、光譜共...

摘要泰科納雙視野拼接閃測儀采用直徑100mm大視野和雙遠心鏡頭，既可實現(xiàn)閃測儀大視野大范圍內(nèi)高速測量，又可以實現(xiàn)影像儀的微米級高精度測量。能夠快速對零件的二維幾何參數(shù)（如：長度、寬度、弧度、直徑、半徑、角度、孔距、對稱度等）進行非接觸式微米級測量。同時可以加裝電感側(cè)頭、光...

摘要泰科納閃測儀快速批量測量儀器采用直徑100mm大視野和雙遠心鏡頭，既可實現(xiàn)閃測儀大視野大范圍內(nèi)高速測量，又可以實現(xiàn)影像儀的微米級高精度測量。能夠快速對零件的二維幾何參數(shù)（如：長度、寬度、弧度、直徑、半徑、角度、孔距、對稱度等）進行非接觸式微米級測量。同時可以加裝電感側(cè)...

摘要 中圖儀器白光干涉儀國產(chǎn)三維形貌儀SuperViewW是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 德國OWIS光學支架26.060.3803可用于所有方向手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向右偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學支架26.045.2603提供優(yōu)異的穩(wěn)定性手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學支架26.040.2603具有高精度的角度調(diào)整能力手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向右偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學支架26.025.1303也可提供電動版本手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學支架26.020.1303可從任何方向插入手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向右偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0035適應不同實驗需求用于安裝直徑 35 毫米光學器件的支架

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0030耐蝕性較差用于安裝直徑 30 毫米光學器件的支架

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0025可提供其他直徑的夾頭用于安裝直徑 25 毫米光學器件的支架

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0000廣泛應用于光學實驗室用于安裝光學器件的支架，帶中心孔和 M4 攻絲孔

摘要 德國OWIS光學支架26.065.3803適用于多種光學元件手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學支架19.100.0076實現(xiàn)光學系統(tǒng)的校準用于未安裝光學器件的光學器件支架 ø 75 mm / 76.2 mm (3“)

摘要 德國OWIS光學支架16.202.0056夾緊直徑為56mmXY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學元件 ø 56 mm

摘要 德國OWIS光學支架16.202.0045帶2個細牙螺釘XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學元件 ø 45 毫米

摘要 德國OWIS光學支架16.100.0050有效保護光學元件用于直徑 50 毫米/50.8 毫米（2 英寸）未安裝光學元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學支架16.100.0040方便地組裝和拆卸用于直徑 40 毫米/38.1 毫米（1.5 英寸）未安裝光學器件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學支架14.202.0026用于固定安裝的光學器件XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學器件 ø 25.4 mm (1“)

摘要 德國OWIS光學支架14.202.0025可安裝在銷軸上XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學元件 ø 25 毫米

摘要 德國OWIS光學支架14.100.0032具有良好的穩(wěn)定性用于直徑 31.5 毫米未安裝光學元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學支架14.100.0025與SYS 40一起使用用于直徑 25 毫米/25.4 毫米（1 英寸）未安裝光學元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學支架14.100.0022黑色陽極氧化處理用于直徑 22.4 毫米未安裝光學元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 中圖儀器SuperViewW白光三維測量系統(tǒng)基于白光干涉原理，能以3D非接觸方式對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 中圖儀器SuperViewW1白光干涉膜厚儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸?？蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要 SuperViewW1國產(chǎn)自研白光干涉三維形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

摘要 中圖儀器SuperViewW1納米級白光干涉儀是一款專用于超精密加工領(lǐng)域的光學檢測儀器，主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。