摘要 硅光電壽命測試機臺提供了一種經(jīng)濟型的OLED器件壽命測試方式，但受限于硅光電對于可見光光譜的響應曲線與CIE的人眼視覺函數(shù)不能*匹配，當器件在壽命衰減過程中光譜形狀發(fā)生變化，或光譜波峰發(fā)生偏移時，其測得...

摘要 為滿足科研類測試的需求，弗士達提供集成IVL測試和視角測試、壽命測試、光通量和外量子效率功能的多合一機臺。增加了高精度的多通道電源為多工位的壽命測試提供定電流或定電壓輸出，器件的亮度則由光譜儀逐一掃描...

摘要 用于OLED模組屏、手機屏幕和車載液晶顯在環(huán)境溫度控制下的光學特性測量。根據(jù)測試的要求不同，光譜儀的測量光斑直徑有8mm、3mm、1mm、0.5mm 4種可選。

摘要 根據(jù)用戶不同溫濕度環(huán)境測試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對器件的壽命測試環(huán)境進行控制。其溫度控制范圍、濕度控制范圍和多層腔式均可根據(jù)客戶的需求訂制。

摘要 在僅需大批量IVL測試而無需視角測試的情況下，可以選擇多片不帶視角的常溫IVL測試工位，以及一個高低溫控的測試工位。用于多片 OLED器件的連續(xù)IVL測試。

摘要 測量功能：使用硅光電傳感器測試模組或Panel的相對亮度的衰減比例?？纱钆涓叩蜏叵浠蚝銣睾銤裣淠M環(huán)境溫濕度，測試速度快，占地空間小。

摘要 測量功能：夾具底部帶有加熱板，利用高溫加速OLED器件的老化，進行高溫條件下的器件壽命測試。

摘要 對于OLED科研類機構用戶，僅考慮測試功能和精度，不考慮測試效率的情況下，可選擇單工位的IVL及視角測試系統(tǒng)。與多工位機臺相比，僅保留一個帶視角的工位和治具，機臺尺寸更緊湊。同時可取消選配工業(yè)視覺對位相機。

摘要 主要應用于OLED材料和OLED屏體生產(chǎn)工廠，滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度視角特性測試需求。測量項目：多片OLED器件的IVL和視角亮度

摘要 FS-MP系統(tǒng)有多組獨立的測量通道。每組測量通道有獨立的電壓輸出、電流輸出、電壓測量、電流測量、相對亮度測量。每組測量通道可以獨立設置測量參數(shù)，包括三段測量時長、測量時間間隔、停止測量判定條件等。每組通道均可以獨立開始測量和停止測量。數(shù)據(jù)報表具備實時保存功能

摘要 ◆ 核心設備國家863（高技術研究發(fā)展計劃）項目研究成果

摘要 MAT-200D LED模組自動測試系統(tǒng)（針對LIGHT BAR燈條方案）

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