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　　EFI模塊測(cè)試系統(tǒng)是由NI測(cè)試儀、模擬負(fù)載箱、電源、條碼掃描和測(cè)試夾具五部分組成。測(cè)試人員手動(dòng)將模塊放入夾具，并將條碼掃描以后，系統(tǒng)將自動(dòng)執(zhí)行模塊功耗、輸入端對(duì)地電阻、A/D采樣值、輸出端漏電流、FET鉗位電壓、E2PROM校驗(yàn)等多項(xiàng)檢驗(yàn)。同時(shí)記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)及通過(guò)/失敗狀態(tài)，并將數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)為T(mén)XT文件用于將來(lái)的數(shù)據(jù)分析。
　　
　　一、硬件結(jié)構(gòu)
　　
　　EFI測(cè)試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)參見(jiàn)圖1。　　　　
　　它包括NI測(cè)試儀（CPU、DAQ、OSC、WAVEFORMGENERATE、MATRIXSWITCH）、模擬負(fù)載箱、電源、條碼掃描和測(cè)試夾具五部分。
　　
　　模塊的檢測(cè)包括輸入端口硬件、輸出端口硬件及特定工況下的功能檢測(cè)三部分。為完成輸入端口的硬件檢測(cè)，選用PXI－6070E多功能卡進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，它有64路12位模擬量輸入，2路模擬量輸出，及八條數(shù)字I/0端口。端口切換選用了NI-2503開(kāi)關(guān)卡，它是雙線24位開(kāi)關(guān)卡，負(fù)責(zé)將被測(cè)試端口與采集卡PXI-6070E相連。
　　
　　同樣，對(duì)輸出端的硬件切換由另一塊NI-2503卡完成。數(shù)據(jù)采集使用NI-5112示波器卡完成。它的100MHz頻寬可以確保對(duì)點(diǎn)火及噴油脈沖的采集。采集到的數(shù)據(jù)將會(huì)放到的緩沖區(qū)中。通過(guò)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，我們就可以得到輸出信號(hào)脈沖的zui大值及頻率值。
　　
　　完成硬件的檢測(cè)后,同樣利用BOOTSTRAP模式,將標(biāo)定數(shù)據(jù)送入模塊E2PROM中,然后將芯片切換到單片模式。模擬正常工況檢測(cè)模塊工作狀態(tài)，完成特定工況下的功能檢測(cè)。通過(guò)以上的測(cè)試,確保了模塊的可靠性。
　　
　　二、軟件設(shè)計(jì)
　　
　　在擁有計(jì)算機(jī)及相應(yīng)硬件卡的環(huán)境下，LABWINDOWS以其基于C語(yǔ)言的開(kāi)發(fā)環(huán)境，良好的用戶界面（如圖2所示）、強(qiáng)大的庫(kù)函數(shù)和方便快捷的調(diào)試手段，使設(shè)計(jì)者能以zui快的速度設(shè)計(jì)、調(diào)試和開(kāi)發(fā)實(shí)際的測(cè)試系統(tǒng)，大大降低了工作量。　　　　
　　模塊檢測(cè)系統(tǒng)軟件可以工作在三種模式下：
　　
　　A.硬件診斷模式
　　
　　B.功能測(cè)試模式
　　
　　C.EOL測(cè)試模式
　　
　　對(duì)輸入端口的硬件檢測(cè)，可以通過(guò)調(diào)用NI-2503，NI-5112及PXI-6070E的驅(qū)動(dòng)函數(shù)，來(lái)非常方便地完成。
　　
　　芯片的A/D采樣值及輸出端口的硬件檢測(cè)，需要下載測(cè)試程序（使用匯編語(yǔ)言編寫(xiě)約1KB）。利用軟件編程,首先要進(jìn)入68HC11的BOOTSTRAP模式，然后將測(cè)試程序下載到芯片。通過(guò)調(diào)用測(cè)試程序的子程序，可以完成包括讀/寫(xiě)芯片RAM、E2PROM區(qū)，校驗(yàn)RAM、E2PORM區(qū)，A/D采樣值讀取，設(shè)定PWM輸出脈沖，校驗(yàn)版本號(hào)等多項(xiàng)功能。
　　
　　功能測(cè)試時(shí)，使芯片工作在單片模式，通過(guò)調(diào)用NI-5411任意波型發(fā)生器驅(qū)動(dòng)函數(shù)來(lái)模擬轉(zhuǎn)速信號(hào)的60-2波型，同時(shí)輸入相應(yīng)的電壓信號(hào)，模擬各傳感器信號(hào)輸入，完成特定工況下的功能測(cè)試。
　　
　　所有測(cè)試結(jié)果將會(huì)存入到的文件中，用于統(tǒng)計(jì)CPK及數(shù)據(jù)分析。
　　
　　三、分析評(píng)價(jià)
　　
　　通過(guò)以上實(shí)際應(yīng)用，LABWINDOWS軟件開(kāi)發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)具有以下顯著優(yōu)點(diǎn)：
　　
　　1.加快了系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)周期，降低了開(kāi)發(fā)難度。使用LABWINDOWS可以方便地調(diào)用硬件驅(qū)動(dòng)程序及功能函數(shù),降低了工作強(qiáng)度，加速了開(kāi)發(fā)進(jìn)程。
　　
　　2.減少了測(cè)試周期。使用LABWINDOWS，使數(shù)據(jù)傳輸速度及測(cè)量時(shí)間得到提高,減少了產(chǎn)品的測(cè)量時(shí)間，每個(gè)模塊的測(cè)量時(shí)間小于50s。
　　
　　3.具有很高的通用性。使用相同的硬件環(huán)境，僅對(duì)軟件進(jìn)行微調(diào)，就可以測(cè)量ECS、DIS等系列產(chǎn)品。