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美國(guó)Bakerhughes貝克休斯超聲波探頭  （原德國(guó)Krautkrmer 原美國(guó)GE）

接觸式探頭傳感
接觸式直探頭-軟保護(hù)膜
接觸式直探頭-硬保護(hù)層
接觸式直探頭-帶延遲塊
接觸式直探頭-雙晶探頭
接觸式斜探頭-大晶片
接觸式斜探頭-小晶片
接觸式斜探頭-雙晶探頭

接觸式探頭，特殊應(yīng)用探頭，相控陣探頭，水浸探頭浸入式傳感器

探頭傳感器配件
線纜和適配器
耦合劑
校準(zhǔn)試塊

需求分析：

我們已經(jīng)設(shè)計(jì)生產(chǎn)了超過一百萬個(gè)超聲探頭，包括14000個(gè)特殊應(yīng)用探頭，我們具有非常豐富的設(shè)計(jì)與生產(chǎn)探頭經(jīng)驗(yàn)，我們會(huì)根據(jù)檢測(cè)應(yīng)用需求選擇*佳的探頭設(shè)計(jì)方案。

生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)：

為了確保每個(gè)探頭的質(zhì)量，我們嚴(yán)格執(zhí)行探頭生產(chǎn)規(guī)范和相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)

仿真設(shè)計(jì)：

在探頭*初設(shè)計(jì)階段，我們使用的仿真軟件仿真超聲聲場(chǎng)，優(yōu)化探頭設(shè)計(jì)，同時(shí)我們對(duì)使用仿真軟件有非常豐富的經(jīng)驗(yàn)，非常了解仿真軟件的局限性，我們知道如何根據(jù)仿真結(jié)果優(yōu)化設(shè)計(jì)與生產(chǎn)探頭。

應(yīng)用測(cè)試：

我們?cè)谟袘?yīng)用中心，能夠在應(yīng)用中心實(shí)驗(yàn)室對(duì)各種復(fù)雜應(yīng)用工件進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)試，根據(jù)實(shí)驗(yàn)測(cè)試效果研究出*佳檢測(cè)方案，你要做的只是將需檢測(cè)的工件寄給我們。

材料選擇和加工

我們?cè)诓少徳牧蠒r(shí)使用*高標(biāo)準(zhǔn)，并且我們的內(nèi)部制造按照ISO標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行控制。我們?cè)趷蹱柼m香農(nóng)的工廠生產(chǎn)壓電復(fù)合陶瓷品片，能夠根據(jù)具體要求生產(chǎn)*佳壓電品征。

原型探頭

在充分了檢測(cè)需求之后，我們制作原型探頭，以進(jìn)一步驗(yàn)證該解決方案的有效性。

探頭測(cè)試

我們確保每個(gè)探頭的可重復(fù)性和穩(wěn)定性，每個(gè)探頭在每一生產(chǎn)環(huán)節(jié)都根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范嚴(yán)格測(cè)試，確保滿足技術(shù)規(guī)范要求。我們每個(gè)探頭都有序列號(hào)，記錄每個(gè)探頭的所有技術(shù)參數(shù)，并且生成測(cè)試報(bào)告保存于我們的數(shù)據(jù)庫中，我們提供探頭技術(shù)參數(shù)，包括每個(gè)探頭的探頭波形和頻譜結(jié)果，以及各技術(shù)參數(shù)的誤差范圍。

制造生產(chǎn)

我們能夠根據(jù)歐州標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)制造生產(chǎn)探頭，我們也可以根據(jù)各地的規(guī)范要求生產(chǎn)探頭，也可以根據(jù)檢測(cè)應(yīng)用要求定制生產(chǎn)探頭，如修改探頭外殼設(shè)計(jì)、探頭接口，以及晶片尺寸和形狀，包括非標(biāo)準(zhǔn)頻率、靈敏度、帶寬和聚焦等性能。

配送

通過我們的分銷站點(diǎn)和客戶服務(wù)資源為您提供*佳配送方案，確保全程提供訂單狀態(tài)，直到探頭到達(dá)您的手中。

支持

我們的專家資源可幫助您應(yīng)對(duì)各種具有挑戰(zhàn)性的超聲檢測(cè)應(yīng)用需求，包括現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用工程師和可以通過電話或電子郵件全天候與您聯(lián)系的遠(yuǎn)程服務(wù)技術(shù)人員。我們的探頭提供一年標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)保期。

一般信息探頭基本類型

此產(chǎn)品目錄中的超聲探頭傳感器分為兩大類，即接觸式和水浸式入式。

用于接觸式檢測(cè)方法的探頭傳感器

直探頭-單晶

工件形狀規(guī)則，檢測(cè)面相對(duì)光滑

適用于平面或帶曲率接觸面

缺陷或底面與接觸面平行

用于檢測(cè)厚度較大的工件

延遲塊探頭能提高近表面分辨力

需要耦合劑

日常檢測(cè)常用探頭

直探頭直通波束 - 雙晶片 (TR)

通過隔聲層使發(fā)射與接收晶片獨(dú)立分開

缺陷或底面與接觸面平行

用于檢測(cè)厚度較小工件

需要耦合劑

日常檢測(cè)常用探頭

度波束斜探頭

斜探頭晶片與楔塊一體或可拆卸

橫波或縱波以特定角度入射

常用的斜探頭為橫波探頭

檢測(cè)與入射聲束垂直的缺陷

有單晶與雙晶斜探頭

需要耦合劑

有時(shí)用于掃查器或自動(dòng)掃查

用于浸入式方法的傳感器

水浸探頭浸入式傳感器

通過水耦合達(dá)到*佳耦合效果

用于結(jié)構(gòu)較規(guī)則工件

常用于自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)

耦合效果穩(wěn)定一致，檢測(cè)結(jié)果可重復(fù)性好

可用于掃查架，噴水式檢測(cè)

可以通過聚焦提高靈敏度和分辨力

聚焦水浸探頭入式傳感器

點(diǎn)聚焦模式

線聚焦模式

聚焦優(yōu)勢(shì)

提高對(duì)小缺陷的敏感檢測(cè)靈敏度

球面形（點(diǎn)）聚焦 圓柱面（線）聚焦

用于接觸式檢測(cè)方法的探頭傳感器直探頭-單晶

工件形狀規(guī)則，檢測(cè)面相對(duì)光滑

適用于平面或帶曲率接觸面

缺陷或底面與接觸面平行

用于檢測(cè)厚度較大的工件

傳感器探頭選擇標(biāo)準(zhǔn) - 北美標(biāo)準(zhǔn)

根據(jù)美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)制造的探頭，Baker Hughes Inspection

Technologies 提供三種系列探頭： Alpha、Benchmark， 和

Gamma 系列。 所有探頭均根據(jù) ASTM E-1065標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試，

測(cè)試報(bào)告提供波形和頻譜等相關(guān)信息。

建議用于對(duì)檢測(cè)分辨率有較高要求的檢測(cè)應(yīng)用。

適用于對(duì)分辨力要求高的厚度測(cè)量和近表面缺陷檢測(cè)等應(yīng)用。

脈沖非常短，達(dá)到目前探頭技術(shù)極限。

靈敏度通常低于 Gamma 和 Benchmark 系列探頭。

帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 50％ 至 100％。

典型的 Alpha 波形（右圖）通常只有一到兩個(gè)完整的回波周期

Benchmark 系列探頭功能

晶片使用特殊BENCHMARK COMPOSITE 壓電復(fù)合材料。

對(duì)高衰減材料的穿透性遠(yuǎn)優(yōu)于傳統(tǒng)探頭。

對(duì)粗晶粒金屬材料、碳纖維增強(qiáng)復(fù)合材料檢測(cè)具有高信噪比。

回波脈沖短 - 分辨率通常優(yōu)于 Gamma 系列。

靈敏度通常高于 Gamma 和 Alpha 系列探頭。

高帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 60％ 至 120％。

晶片低聲阻抗提高了斜探頭、延遲探頭和水浸探頭的性能，與塑料和水的聲阻抗匹配效果好。

Gamma 系列功能

常用探頭，適用于大多數(shù)日常檢測(cè)應(yīng)用要求。

中脈沖、中阻尼 – 靈敏度和分辨率的優(yōu)化組合。

電子匹配性能確保較高的檢測(cè)靈敏度，牲犧一定分辨力

中帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 30％ 至 50％。

典型的 Gamma 波形會(huì)顯示三到四個(gè)完整回波周期，取決于探頭頻率、探頭直徑和其他參數(shù)。