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暗電流的測試通常需要提供一個反向偏壓，縱觀目前的電流表和電流計，都不具備提供偏壓的功能，因此必須在電流表的回路中加入電壓源。但這樣會使測試系統(tǒng)變得復雜，引入更多干擾條件，導致暗電流的測試精度無法保證。

三同軸線纜連接

APD暗電流測試連接線通常會選擇使用低噪聲、低電阻的導線，三同軸線纜具有良好的導電性能和抗干擾能力，適合用于傳輸微弱信號，可以減少測試過程中的干擾和誤差。

如下圖三同軸線纜的半剖圖，多層絕緣屏蔽具有良好的抗干擾能力。

圖：三同軸線纜半剖圖

(1導體;2絕緣;3內屏蔽層;4中間層;5外屏蔽層;6外護套)

屏蔽外部電磁信號干擾

測試系統(tǒng)架構圖如下圖所示，數字源表（SMU）連接到光電二極管上，該光電二極管安放在一個電屏蔽的暗箱中，為了對敏感的電流測量進行屏蔽使其不受外部干擾的影響，通過將屏蔽箱與數字源表（SMU）的低端相連，可以形成一個封閉的金屬屏蔽環(huán)境，有效地阻止外部電磁干擾信號的進入，保護測試信號的準確性和穩(wěn)定性。

圖：測試系統(tǒng)架構

預留充足的測量時間

在進行暗電流測試時，需要考慮測試時間的長短。通常情況下，這種現象可能是由于APD內部的一些因素導致的，例如載流子的生成和收集過程。隨著測試時間的推移，由于暗電流源的累積或者其他因素的影響，暗電流會逐漸增加至一個穩(wěn)定的數值。