人們通常把XRF環(huán)保檢測儀器在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光(X—Ray Fluorescence),而把用來照射的X射線叫原級X射線。
所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光(XRF)儀器由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品。
受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。
探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
X射線照在物質上而產生的次級 X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理,理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實際應用中,有效的元素測量范圍為9號元素 (F)到92號元素(U)。
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波,其特性通常用能量(單位:千電子伏特,keV)和波長(單位:nm)描述。
X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩(wěn)定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行,內層電子(如K層)在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,釋放出的電子會導致該電子殼層出現相應的電子空位。
這時處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光(XRF)。