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過(guò)程分析 PAT 技術(shù)在結(jié)晶過(guò)程的應(yīng)用
超聲顆粒粒度分布測(cè)量?jī)x NanoSonic,工藝過(guò)程成像探頭系統(tǒng) 2D VISION PROBE, 非接觸式過(guò)程成像,和探頭式濁度儀TURBIDITYPROBE 用于結(jié)晶過(guò)程的研究
背景
過(guò)程分析技術(shù)就是及時(shí)測(cè)量,用以分析和控制生產(chǎn)流程,在加工過(guò)程中,保障原始材料和工藝過(guò)程關(guān)鍵質(zhì)量參數(shù)和性能屬性,以確??山邮艿?終產(chǎn)品質(zhì)量的體系。(Aspirin),作為醫(yī)藥三大經(jīng)典藥物之一,是應(yīng)用*廣泛的解熱、鎮(zhèn)痛和**藥。本案例集成濁度儀 TURBIDITYPROBE、超聲顆粒粒度分布測(cè)量?jī)x NanoSonic、工藝過(guò)程成像探頭系統(tǒng) 2D VSION PROBE,非接觸式成像以溫度測(cè)量及衰減全反射紅外光譜儀(ATR-FTIR)等儀器用于冷卻結(jié)晶過(guò)程的研究。
實(shí)驗(yàn)裝置及過(guò)程
圖 1 為 1L 反應(yīng)釜中冷卻結(jié)晶實(shí)驗(yàn)裝置的照片。
圖 1 1L 冷卻結(jié)晶實(shí)驗(yàn)裝置
實(shí)驗(yàn)結(jié)果
(a)不加晶種實(shí)驗(yàn)
圖2 不加晶種冷卻結(jié)晶實(shí)驗(yàn)的溫度、濃度和濁度曲線(攪拌 160r.p.m)
圖3 不加晶種冷卻結(jié)晶實(shí)驗(yàn),超聲粒度儀 NanoSonic 測(cè)得不同時(shí)刻晶體的粒度分布
圖3 不加晶種實(shí)驗(yàn)中不同時(shí)間點(diǎn)探頭(左)和非接觸式(右)成像系統(tǒng)拍攝的晶體圖像
(b)加晶種實(shí)驗(yàn)
圖4 是加晶種冷卻結(jié)晶實(shí)驗(yàn)的溫度、濃度和濁度曲線(攪拌 100r.p.m),加晶種溫度為25.05oC,且對(duì)于該時(shí)刻溫度、濃度和濁度曲線均有所反映(加入晶種不久后爆發(fā)成核)。在相同攪拌速率的不加晶種實(shí)驗(yàn)中(其他條件相同),出晶點(diǎn)為 20.61oC。由此可知,相同攪拌速率下,添加晶種可促進(jìn)晶體成核。圖 5 為超聲粒度儀測(cè)得的不同時(shí)刻晶體的粒度分布,圖 6 為探頭式和非接觸式成像系統(tǒng)拍攝的相應(yīng)時(shí)刻的晶體圖像,從中可看出晶體明顯的生長(zhǎng)趨勢(shì)。
圖 4 加晶種冷卻結(jié)晶實(shí)驗(yàn)的溫度、濃度和濁度曲線(攪拌 100r.p.m)
圖 5 加晶種冷卻結(jié)晶實(shí)驗(yàn),超聲粒度儀 NanoSonic 測(cè)得不同時(shí)刻晶體的粒度分布
圖 6 加晶種實(shí)驗(yàn)中不同時(shí)間點(diǎn)探頭式(左)和非接觸式(右)成像系統(tǒng)拍攝的晶體圖像
結(jié)論
本案例集成了多種 PAT 技術(shù)用于監(jiān)測(cè) 1L 反應(yīng)釜中藥物的冷卻結(jié)晶過(guò)程。從加晶種和不加晶種的實(shí)驗(yàn)結(jié)果中都可看出,所采用的檢測(cè)手段都可有效的反應(yīng)結(jié)晶過(guò)程的各種變化??梢詾榻Y(jié)晶過(guò)程的進(jìn)一步優(yōu)化提供寶貴的信息支持。
吳魁,博士研究生,華南理工大學(xué)
姜波,碩士研究生, 華南理工大學(xué)
李秀喜,華南理工大學(xué)副教授
王學(xué)重,華南理工大學(xué)教授
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