顯微硬度計(jì)的正確使用方法
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顯微硬度計(jì)的正確使用方法,以下內(nèi)容由小編整理,相關(guān)內(nèi)容供以參考。

硬度是材料機(jī)械性能重要指標(biāo)之一,而硬度試驗(yàn)是判斷材料或產(chǎn)品零件質(zhì)量的一種手段。所謂硬度,*是材料在一定條件下抵抗另一本身不發(fā)生殘余變形物體壓入能力。抵抗能力愈大,則硬度愈高,反之則硬度愈低。在機(jī)械性能試驗(yàn)中,測(cè)量硬度是一種*容易、*經(jīng)濟(jì)、*迅速的方法,也是生產(chǎn)過(guò)程中檢查產(chǎn)品質(zhì)量的措施之一,由于金屬等材料硬度與其他機(jī)械性能有相互對(duì)應(yīng)關(guān)系,因此,大多數(shù)金屬材料可通過(guò)測(cè)定硬度近似地推算出其他機(jī)械性能,如強(qiáng)度、疲勞、蠕變、磨損和內(nèi)損等。所以硬度計(jì)被廣為應(yīng)用。
一、顯微硬度計(jì)工作原理和組成
顯微硬度計(jì)是近年來(lái)常用測(cè)量硬度的設(shè)備。測(cè)量硬度是通過(guò)升降顯微硬度計(jì)的調(diào)焦機(jī)構(gòu)、測(cè)量顯微鏡、加荷機(jī)構(gòu),正確選擇負(fù)荷、加荷速度進(jìn)行全自動(dòng)加卸試驗(yàn)力及正確控制試驗(yàn)力保持時(shí)間,通過(guò)顯微硬度計(jì)光學(xué)放大,測(cè)出在一定試驗(yàn)力下金剛石角錐體壓頭壓入被測(cè)物后所殘留壓痕的對(duì)角線(xiàn)長(zhǎng)度,來(lái)求出被測(cè)物硬度值。
二、顯微硬度計(jì)的正確使用
由于顯微硬度試驗(yàn)往往是對(duì)很小的試樣(如針尖),或試樣上很小的特定部位(如金相組織)進(jìn)行硬度測(cè)定,而這些情況難以用人眼來(lái)進(jìn)行觀察和判定,而且顯微硬度試驗(yàn)后所得壓痕非常小,這也是難以人眼來(lái)尋找,更不用說(shuō)進(jìn)行壓痕對(duì)角線(xiàn)長(zhǎng)度的測(cè)量,所以非得用顯微鏡才能進(jìn)行工作。正確使用顯微硬度計(jì),除了正確選擇負(fù)荷、加荷速度、保荷時(shí)間外,測(cè)量顯微鏡使用的正確與否是十分重要的?,F(xiàn)*如何正確使用顯微硬度計(jì)作簡(jiǎn)要介紹。
1 負(fù)荷的選擇為確切得到被測(cè)對(duì)象的真實(shí)硬度,必須選擇恰當(dāng)負(fù)荷。選擇負(fù)荷應(yīng)考慮以下幾個(gè)原則:
a、在測(cè)定薄片或表面層硬度時(shí),要根據(jù)壓頭壓入深度和試件或表面層厚度選擇負(fù)荷。因?yàn)橐话阍嚰虮砻鎸雍穸仁侵赖模粶y(cè)部位硬度或硬度范圍也應(yīng)是可知道的,基于壓頭壓入試樣時(shí)擠壓應(yīng)力在深度上涉及范圍接近于壓入深度的10倍,為避免底層硬度的影響,壓頭壓入深度應(yīng)小于試件或表面層的十分之一。
b、對(duì)試樣剖面測(cè)定硬度時(shí),應(yīng)根據(jù)壓痕對(duì)角線(xiàn)長(zhǎng)度和剖面寬度選擇負(fù)荷?;趬侯^壓入試樣時(shí)產(chǎn)生的擠壓應(yīng)力區(qū)域*大可從壓痕中心擴(kuò)展到4倍對(duì)角線(xiàn)的距離。為避免相鄰區(qū)域不同硬度或空間對(duì)被測(cè)部位硬度影響,所以壓痕中心離開(kāi)邊緣的距離應(yīng)不小于壓痕對(duì)角線(xiàn)長(zhǎng)度的2.5倍,即壓痕對(duì)角線(xiàn)長(zhǎng)度為試件或表面層剖面寬度的五分之一。
c、當(dāng)測(cè)定晶粒、相、類(lèi)雜物等時(shí),應(yīng)遵守以上兩個(gè)原則來(lái)選擇負(fù)荷,壓頭壓入深度不大于其厚度的1/10,壓痕的對(duì)角線(xiàn)長(zhǎng)度應(yīng)不大于其面積的1/5。
d、測(cè)定試件(零件、表面層、材料)平均硬度時(shí),在試件表面尺寸及厚度允許的前提下,應(yīng)盡量選擇大負(fù)荷,以免試件材料組織硬度不均勻影響試件硬度測(cè)定的正確性。
e、為保證測(cè)量*度,在情況允許時(shí),應(yīng)選擇大負(fù)荷,一般應(yīng)使壓痕對(duì)角線(xiàn)長(zhǎng)度大于20μm。
f、考慮到試件表面冷加工時(shí)產(chǎn)生的擠壓應(yīng)力硬化層的影響,在選擇負(fù)荷時(shí)應(yīng)在情況許可的情況下選擇大負(fù)荷。
2 測(cè)量顯微鏡的正確使用a. 尋找像平面
(1)針尖試樣應(yīng)采用“光點(diǎn)找像法”。
一般顯微硬度計(jì)測(cè)量顯微鏡物方視場(chǎng)只有0.25~0.35mm,在此視場(chǎng)范圍外區(qū)域,在測(cè)量顯微鏡目鏡視場(chǎng)內(nèi),眼睛是看不見(jiàn)的。而針尖類(lèi)試樣*往往小于0.1mm,所以在安裝調(diào)節(jié)試樣時(shí),很難把此*調(diào)節(jié)在視場(chǎng)內(nèi);如果此*在視場(chǎng)周?chē)辉谝晥?chǎng)內(nèi),則在升降工作臺(tái)進(jìn)行調(diào)節(jié)時(shí)不小心*會(huì)把物鏡鏡片頂壞,即使不頂壞物鏡,找像也很困難,為解決這個(gè)問(wèn)題,提出“光點(diǎn)找像法”方法。
開(kāi)啟測(cè)量顯微鏡的照明燈泡,這時(shí)在物鏡下面工作臺(tái)上*有一個(gè)圓光斑,把針尖試樣垂直于工作臺(tái)安裝在此光斑的中心,升高工作臺(tái),使此針尖的*離開(kāi)物鏡約1mm,這時(shí)眼睛觀察*部位,調(diào)節(jié)工作臺(tái)上的兩個(gè)測(cè)微絲桿,使物鏡下照明光點(diǎn)在前后左右對(duì)稱(chēng)分布在此*上(這一步驟必須仔細(xì)),隨后緩慢調(diào)節(jié)升降機(jī)構(gòu),這時(shí)在目鏡視場(chǎng)中即會(huì)看到一個(gè)光亮點(diǎn),這*是此*上的反射光點(diǎn),再進(jìn)一步調(diào)節(jié)升降即可找到此針尖的像。
(2)表面光潔度很高的試樣(如顯微硬度塊)應(yīng)采用邊緣找像法。
顯微硬度試驗(yàn)中,試樣表面光潔度一般都是很高的,往往是鏡面,表面上沒(méi)有明顯觀察特征,而顯微硬度計(jì)中所有高倍測(cè)量顯微鏡的景深都是非常小的,只有1~2μm,所以在調(diào)焦找像平面時(shí),對(duì)于缺乏經(jīng)驗(yàn)的操作者是很困難的,甚至?xí)鰤奈镧R,所以操作者有的留用表面殘留痕跡來(lái)找像平面,但有時(shí)往往無(wú)殘留痕跡時(shí),建議采用邊緣找像法。即按上述同樣方法使用照明光點(diǎn)(約為0.5~1mm)的中心對(duì)準(zhǔn)試樣表面輪廓邊緣,則在目鏡視場(chǎng)內(nèi)看到半亮半暗的交界處即為此輪廓邊緣,隨后進(jìn)一步調(diào)節(jié)升降即可找到此表面邊緣的像。
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