數(shù)字超聲波探傷儀焊縫探傷實(shí)操舉例
(用斜探頭掃查25mm厚鋼板的焊縫)
一.探傷檢測(cè)前的準(zhǔn)備
1.TUG500數(shù)字超聲波探傷儀
2.橫波斜探頭: 5M13×13K2
3.標(biāo)準(zhǔn)試塊:CSK-IB 、CSK-3A
4.30mm厚鋼板的對(duì)接焊縫
5.DAC參數(shù):
(1)DAC點(diǎn)數(shù):d=5、10、15、20(mm)的4點(diǎn)
(2)判廢線偏移量:+5dB
(3)定量線偏移量:-3dB
(4)評(píng)定線偏移量:-9dB
6.耦合劑(如:機(jī)油等)
二.探測(cè)面的選擇
焊縫一側(cè)
三.開(kāi)機(jī)
1.將探頭和超聲探傷儀連接
2.開(kāi)啟面板開(kāi)關(guān) ,開(kāi)機(jī)自檢,約5秒鐘進(jìn)入探傷界面。
3.快速基本設(shè)置:
1)按 鍵,使屏幕下方顯示“基本”、“收發(fā)”、“閘門”、“通道”、“探頭”五個(gè)功能主菜單。
2)按“F1”鍵,進(jìn)入“基本”功能組,將“基本”功能內(nèi)的“探測(cè)范圍”調(diào)為“150”,將“材料聲速”調(diào)為“3230”,將“脈沖移位”調(diào)為“0.0,將“探頭零點(diǎn)”調(diào)為“0.00”。
3)按下F2鍵,進(jìn)入“收發(fā)”功能組,將“收發(fā)”功能內(nèi)的“探頭方式”調(diào)為“單晶”,將“回波抑制”調(diào)為“0%”。
4) 按下F3鍵,進(jìn)入“閘門”功能組,將“閘門報(bào)警”調(diào)為“關(guān)”,將“閘門寬度”調(diào)為“20.0”,將“閘門高度”調(diào)為“50%”。(此條內(nèi)容的調(diào)整可根據(jù)使用者的習(xí)慣而定)。
5)按下F4鍵,進(jìn)入“通道”功能組,將“探傷通道”調(diào)為所需的未存儲(chǔ)曲線的通道,如“No.1”,此時(shí)“設(shè)置調(diào)出”、“設(shè)置保存”和“設(shè)置刪除”均默認(rèn)顯示為“關(guān)”。
6)按下F5鍵,進(jìn)入“探頭”功能組,將“探頭K值”調(diào)為“0.00”,將“工件厚度”調(diào)為“50.0”,將“探頭前沿”調(diào)為“0.00”,將“標(biāo)度方式”調(diào)為“聲程”。
7)按一下 鍵,使屏幕下方顯示“增益”、“DAC1”、“ DAC2”“AVG1”“AVG2”五個(gè)功能主菜單。
8)按下F1鍵,進(jìn)入“增益”功能組,將全部?jī)?nèi)容均調(diào)為“關(guān)”。
9)按下F2鍵,進(jìn)入“DAC1”功能組,將“DAC曲線”調(diào)為“開(kāi)”,將“DAC標(biāo)定點(diǎn)”調(diào)為“0”,將“顯示標(biāo)定”調(diào)為“開(kāi)”。
此時(shí)對(duì)應(yīng)F3鍵的“DAC2”、對(duì)應(yīng)F4鍵的“AVG1”和對(duì)應(yīng)F5鍵的“AVG2”三個(gè)菜單均不需做任何設(shè)置;如果此時(shí)再按一下 鍵,屏幕下方顯示“B掃描”、“ 屏保”、“存儲(chǔ)”、“ 設(shè)置”“高級(jí)”五個(gè)功能主菜單,用傳統(tǒng)方法校準(zhǔn)斜探頭,這五個(gè)菜單也均不需做任何設(shè)置。
注:進(jìn)入各項(xiàng)功能后利用“方向鍵”,將亮條移動(dòng)到所需調(diào)整的項(xiàng),利用“+”或“-”鍵調(diào)整數(shù)值?;驹O(shè)置調(diào)整完畢。
四.校準(zhǔn)
1.輸入材料聲速:3230m/s
2. 探頭前沿校準(zhǔn)
(1)如圖1所示,將探頭放在CSK-1B標(biāo)準(zhǔn)試塊的0位上
(2)前后移動(dòng)探頭,使試塊R100圓弧面的回波幅度,回波幅度不要超出屏幕,否則需要減小增益。
(3)當(dāng)回波幅度達(dá)到時(shí),保持探頭不動(dòng),在與試塊“0”刻度對(duì)應(yīng)的探頭側(cè)面作好標(biāo)記,這點(diǎn)就是波束的入射點(diǎn),從探頭刻度尺上直接讀出試塊“0”刻度所對(duì)應(yīng)的刻度值,即為探頭的前沿值。(或用刻度尺測(cè)量圖1所示L值,前沿x=100-L。), 將探頭前沿值輸入“探頭”功能內(nèi)的“探頭前沿”中,探頭前沿測(cè)定完畢。
(圖1:CSK-IA試塊校測(cè)零點(diǎn)和前沿示意圖)數(shù)字超聲波探傷儀焊縫探傷實(shí)操舉例
3.探頭零點(diǎn)的校準(zhǔn)
按圖1的方法放置探頭,用閘門套住波,調(diào)整探頭零點(diǎn)
此時(shí),保持探頭位置不動(dòng),用閘門套住R100圓弧的反射波,調(diào)整基本功能組中的“探頭零點(diǎn)”的數(shù)值,直到聲程S=100為止,“探頭零點(diǎn)”調(diào)整完畢。
4.探頭K值校準(zhǔn)(折射角的校準(zhǔn))
由于被測(cè)物的材質(zhì)和楔塊的磨損會(huì)使探頭的實(shí)際K值與標(biāo)稱值有一些誤差。因此需要測(cè)定探頭的實(shí)際K值。校準(zhǔn)步驟如下:
(1)如圖2將探頭放在CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊的適當(dāng)?shù)慕嵌葮?biāo)記上。
(2)前后移動(dòng)探頭,找到試塊邊上大圓孔的回波波峰時(shí),保持探頭不動(dòng)。
(3)在試塊上讀出入射點(diǎn)與試塊上對(duì)齊的K值,這個(gè)角度為探頭的實(shí)際K值,(或者通過(guò)計(jì)算斜率校準(zhǔn),見(jiàn)下圖2),將此值輸入“探頭”功能組中的“K值”。
(圖2:折射角的校準(zhǔn))
五.制作DAC曲線
用CSK-3A試塊制作DAC曲線
步:移動(dòng)探頭找到孔深為10mm的回波,并將A閘門套住此波,按“+”鍵,使標(biāo)定點(diǎn)增加為“1”;
第二步:移動(dòng)探頭找到孔深為20mm的回波,并將A閘門套住此波,按“+”鍵,使標(biāo)定點(diǎn)增加為“2”;
此時(shí)已添加了2個(gè)標(biāo)定點(diǎn),DAC曲線已經(jīng)生成。根據(jù)探傷需要,可以繼續(xù)找到孔深為30、40、50mm等反射體的回波,使標(biāo)定點(diǎn)增加為3、4、5,DAC曲線制作完畢。
第三步:輸入標(biāo)準(zhǔn)和補(bǔ)償
在DAC2菜單上,將判費(fèi)線偏移量設(shè)置為+5dB,定量線偏移量設(shè)置為-3dB,評(píng)定線偏移量設(shè)置為-9dB。
試塊類型 | 板厚 mm | 評(píng)定線 | 定量線 | 叛廢線 |
CSK-IIA | 6~46 | Ф2×40-18dB | Ф2×40-12dB | Ф2×40-4dB |
46~120 | Ф2×40-14dB | Ф2×40-8dB | Ф2×40+2dB |
CSK-IIIA | 8~15 | Ф1×6-12dB | Ф1×6-6dB | Ф1×6+2dB |
15~46 | Ф1×6-9dB | Ф1×6-3dB | Ф1×6+5dB |
46~120 | Ф1×6-6dB | Ф1×6 | Ф1×6+10dB |
CSK-ⅣA | 120~400 | Фd-16dB | Фd-10dB | Фd |
六.現(xiàn)場(chǎng)探傷
1.開(kāi)機(jī)后,選擇通道號(hào),調(diào)出dac曲線,將標(biāo)度方式設(shè)置為深度(或水平),設(shè)置表面補(bǔ)償dB數(shù)(一般輸入補(bǔ)償2~4dB)。
2.將“探頭”功能中的“工件厚度”調(diào)為板厚的2倍,以保證屏幕能顯示探頭的二次波掃查波形,避免漏檢。
3.探傷時(shí)一般是使探頭垂直焊口走向并沿焊口走向做鋸齒型掃查(即探頭運(yùn)動(dòng)軌跡為鋸齒型);
4.探頭沿焊口走向(前后)移動(dòng)的距離:0~100mm (如:下圖)
計(jì)算方法:起點(diǎn)(位置2):0
終點(diǎn)(位置2):S=2KT=2×2×25=100mm (其中K表示探頭斜率,T表示工件厚度)
5. 探頭沿焊口走向( 左右)移動(dòng)的速度:≤1.5 米/分
七.存儲(chǔ)探傷波形和數(shù)據(jù)
將探傷波形和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到相應(yīng)組號(hào)。
八.將TUG500與計(jì)算機(jī)連接,將探傷波形和數(shù)據(jù)上傳到計(jì)算機(jī),生成探傷報(bào)告。