粒度粒形分析儀系統(tǒng)是采用了鞘流技術(shù)的動態(tài)粒度粒形分析系統(tǒng),它由顯微鏡、鞘流樣品池、微量泵、進(jìn)口攝像機(jī)、攪拌分散系統(tǒng)等組成。它的工作過程是將樣品放到燒杯里制成一定濃度的懸浮液,通過攪拌器和分散器將樣品分散好以后,用微量泵將樣品抽取出來,注入到鞘流樣品池中,同時(shí),鞘液泵也將鞘液(一般為純凈水)注入鞘流樣品池中并將樣品流包裹在中間,二者一起從樣品池中流過,在流動過程中攝像機(jī)通過顯微鏡連續(xù)拍攝顆粒圖像并傳輸?shù)诫娔X中進(jìn)行分析,從而得到粒度和粒形參數(shù)。
粒度粒形分析儀功能及特點(diǎn):
1.可對高速運(yùn)動狀態(tài)下的顆粒進(jìn)行清晰的粒形和粒度分析,從不同的方向測試顆粒的形狀,保證被測試樣品的代表性;
2.高效、簡潔的模塊化設(shè)計(jì),讓不同的分散系統(tǒng)和圖形分析系統(tǒng)自由組合,完成不同應(yīng)用領(lǐng)域的測試要求,比如對粉狀物料、懸浮液、纖維狀物料、透明晶體的粒形粒度分析;
3.可達(dá)到亞微米級的高清晰度、高精度的粒形和粒度大小同步測試;
4.高達(dá)400萬像素的CMOS成像系統(tǒng),可以保證清晰的得到每一個(gè)顆粒的粒形信息;
5.每秒高達(dá)500幅圖片的成像速度,可以快速的獲得顆粒粒度信息,并進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析;
6.可以用于顆粒的計(jì)數(shù)應(yīng)用。
粒度粒形分析儀高性能的鏡頭和*的激光斜入射結(jié)構(gòu),在單光束條件下實(shí)現(xiàn)了全角度散射光信號的接收。這種技術(shù)不僅達(dá)到了進(jìn)口儀器的用多光束技術(shù)來擴(kuò)大散射光角度的效果,還避免了多光束技術(shù)造成的間斷散射光信號的連接偏差和多波長造成的樣品折射率偏差,使測試結(jié)果更準(zhǔn)確,同時(shí)實(shí)現(xiàn)了對納米、微米甚至毫米級樣品的準(zhǔn)確粒度測試。
由于探測器數(shù)量多和結(jié)構(gòu)*,該儀器具有分辨單峰、雙峰和多峰樣品的能力。同時(shí),該儀器還具有樣品折射率測量計(jì)技術(shù)、自動對中技術(shù)、防干燒超聲波分散技術(shù)、SOP技術(shù)、大功率短波長偏振光技術(shù)等,進(jìn)一步保證了重復(fù)性、準(zhǔn)確性和分辨力。