負(fù)損耗表示光纖鏈路不光沒有損耗，反而還有“增益”——當(dāng)然這是不真實(shí)的。福祿克光纖測試結(jié)果出現(xiàn)“負(fù)損耗”的主要原因來自于以下各種偏差和誤差。
一、在光源端口，光能量不都是 100%射入測試跳線中的，其“耦合效率”的高低與端口結(jié)構(gòu)的幾何尺寸和幾何偏差有關(guān)，且與測試跳線插頭的幾何尺寸的“偏差”也有關(guān)。所以，歸零以后一般不允許再插拔測試跳線，否則會破壞端口耦合效率，如若不小心拔出了跳線，則必須重新歸零，只有這樣才能避免增大測試誤差。對短鏈路而言，歸零后插拔端口跳線會令損耗增加或“減少” — 這導(dǎo)致出現(xiàn)測試結(jié)果為“負(fù)損耗”的現(xiàn)象。
二、如果歸零時(shí)跳線端面附著有纖維屑或灰塵，但歸零后脫落，也可能會出現(xiàn)“負(fù)損耗”。
三、歸零時(shí)跳線插拔不到位（損耗偏大）。
四、如果歸零用的耦合器本身偏差較大（比如軸向?qū)?zhǔn)偏差較大），則歸零后測試短鏈路時(shí)也可能會出現(xiàn)負(fù)損耗。
五、開機(jī)未預(yù)熱就歸零，因儀器工作參數(shù)漂移而出現(xiàn)“負(fù)損耗”。一般建議預(yù)熱5 分鐘，溫差較大時(shí)應(yīng)預(yù)熱 10 分鐘。
六、劣質(zhì)測試跳線或跳線本身不穩(wěn)定。