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普通傳統(tǒng)的制樣減薄方法存在遠(yuǎn)端的薄區(qū)極易彎曲和薄區(qū)厚度不均勻的問題, 因此某機(jī)構(gòu)采用伯東 KRI考夫曼聚焦型射頻離子源 RFICP 380 通過交叉減薄的方法制備超薄 TEM 樣品.
交叉減薄
交叉減薄的過程利用 TEM 樣品臺的旋轉(zhuǎn)來完成, 如下圖.
TEM 樣品臺模型圖
伯東 KRI 考夫曼聚焦型射頻離子源 RFICP 380 技術(shù)參數(shù):
射頻離子源型號 | RFICP 380 |
Discharge 陽極 | 射頻 RFICP |
離子束流 | >1500 mA |
離子動能 | 100-1200 V |
柵極直徑 | 30 cm Φ |
離子束 | 聚焦 |
流量 | 15-50 sccm |
通氣 | Ar, Kr, Xe, O2, N2, H2, 其他 |
典型壓力 | < 0.5m Torr |
長度 | 39 cm |
直徑 | 59 cm |
中和器 | LFN 2000 |
推薦理由:
使用 KRI 考夫曼聚焦型射頻離子源 RFICP 380 可以準(zhǔn)確、靈活地對樣品選定的區(qū)域進(jìn)行刻蝕、沉積和減薄.
運(yùn)行結(jié)果:
1. 通過利用 KRI 考夫曼聚焦型射頻離子源 RFICP 380 和樣品臺交叉減薄得到的薄區(qū)非常均勻, 邊緣整齊. 相比較傳統(tǒng)減薄方法, 交叉減薄避免了樣品在傾斜52°和56°減薄時出現(xiàn)的邊緣收縮問題和遠(yuǎn)端薄區(qū)彎曲問題.
2. 對于復(fù)合材料大大降低了位于兩相界面處薄區(qū)的厚度, 提高了樣品質(zhì)量, 提高了制樣的成功率和效率.
伯東是德國 Pfeiffer 真空泵, 檢漏儀, 質(zhì)譜儀, 真空計, 美國 KRI 考夫曼離子源, 美國HVA 真空閥門, 美國 inTEST 高低溫沖擊測試機(jī), 美國 Ambrell 感應(yīng)加熱設(shè)備和日本 NS 離子蝕刻機(jī)等進(jìn)口品牌的代理商.
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