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目錄：
1 目的
2 編制依據(jù)
3 執(zhí)行原則
4 適用范圍
5 術語、定義
6 主要職責
7. 可靠性測試程序
7.1. 加速壽命測試ALT （ACCELERATED LIFE TEST）
7.2.氣候適應性測試 （CLIMATIC STRESS TEST）
7.3.結構耐久測試 （MECHANICAL ENDURANCE TEST）
7.4 表面裝飾測試 （DECORATIVE SURFACE TEST）
7.5. 特殊條件測試 （SPECIAL STRESS TEST）
7.6 其他條件測試
8 zui終檢驗
9 附錄：


1 目的
作為產(chǎn)品質量保證系統(tǒng)的一部分，可靠性測試程序將力求達到以下目標：
1.1 在特定的可接受的環(huán)境下不斷的催化產(chǎn)品的壽命和疲勞度，評估產(chǎn)品的質量和可靠性；
1.2 規(guī)范可靠性試驗（PRT）作業(yè)方法。

2 編制依據(jù)
2.1 GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗*部分：總則
2.2 GB/T 15844.2-1995 移動通信調(diào)頻無線機環(huán)境要求和實驗方法
2.3 GB/T 15844.3-1995 移動通信調(diào)頻無線機可靠性要求及實驗方法
2.4 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分：實驗方法 試驗A：低溫
2.5 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：實驗方法 試驗B：高溫
2.6 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：實驗方法 試驗Ed：自由跌落
2.7 GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：實驗方法 試驗Fc和導則：振動
2.8 GB/T 2423.3-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
2.9 GB4943-2001 信息技術設備的安全
2.10 GB/T 17626.2-1998 電磁兼容 試驗和測量技術 靜電放電抗擾度試驗
2.11 YD/T 1215-2002 GSM900/1800MHzTDMA數(shù)字蜂窩移動通信網(wǎng)通用分組無線業(yè)務（GPRS）設備測試方法：移動臺
2.12 YD 1032-2000 GSM900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動通信系統(tǒng)電磁兼容性限值和測量方法*部分：移動臺及其設備
2.13 *科技司- 機入網(wǎng)檢驗細則，2000年10 月發(fā)布
3 執(zhí)行原則
可靠性試驗程序及判斷標準，嚴格遵守此程序。
4 適用范圍
適用于XXXXX無線通信所屬公司所有研發(fā)手機產(chǎn)品。
5 術語、定義
PRT：Product Reliability Test（產(chǎn)品可靠性測試）
6 主要職責
6.1. 可靠性測試技術員
6.1.1 產(chǎn)品可靠性具體測試任務的執(zhí)行、跟蹤；
6.1.2 完成可靠性測試原始記錄并整理；
6.1.3 實驗機器（測試設備）的日常維護；
6.1.4 實驗室數(shù)據(jù)庫的管理。
6. 2 可靠性測試工程師
6.2.1定義項目/產(chǎn)品可靠性測試計劃
6.2.2完成，跟蹤項目/產(chǎn)品可靠性測試測試結果；
6.2.3 參與產(chǎn)品可靠性測試問題的分析及改進；
6.2.4制訂/修定可靠性測試程序及標準
6.2.5可靠性測試設備/儀器的開發(fā)
6.2.6可靠性實驗室測試設備/儀器的日常管理，維護。

6.3 可靠性測試
6.3.1產(chǎn)品可靠性實驗室測試程序實施管理，實現(xiàn)過程的策劃
6.3.2產(chǎn)品可靠性測試項目開發(fā)，評審
6.3.3產(chǎn)品可靠性測試項目計劃，報告，文件的審發(fā)
6.3.4制訂測試程序文件，審核測試執(zhí)行文件
6.3.5可靠性測試程序及標準的擬定，評審，核發(fā)
6.3.6可靠性實驗室運行管理
6.4 可靠性測試專員
6.4.1 受理研發(fā)部門的測試需求；
6.4.2 負責跟蹤試驗的進度；6.4.3 對設計人員或可靠性測試人員的要求或問題等及時地傳達；
6.5 編制、修改、評審、審批、更新職責
可靠性實驗室編制、修改、及時更新和協(xié)調(diào)各公司質量部人員評審本試驗程序，由管理層審批。

7. 可靠性測試程序
7.1. 加速壽命測試ALT （Accelerated Life Test）
樣機標準數(shù)量：
PR1：8臺 PR2：10臺 PR3：10臺 PIR：10臺
試驗周期： 10-12天
測試目的： 通過連續(xù)的施加各種測試條件，加速產(chǎn)品的失效，提前暴露潛在問題。
試驗流程： 見下圖，其中Thermal Shock 和1st Drop測試的時間間隔應不超過4小時；Temp/Humidity和2ndDrop測試的時間間隔應不超過4小時。每項測試完成都應進行表面，外觀，結構和功能檢查。（表面，外觀和結構檢查參考賽福同舟《手機綜合檢驗標準》QC3001;功能檢查參考附錄二。下同）。
測試標準：
7.1.1 室溫下參數(shù)測試 （Parametric Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的： 測試預檢查
測試方法：使用8960/8922測試儀，參照附件1（下同）項目列表，對所有樣品進行參數(shù)指標預測試并保存測試結果。
測試標準：所有附件1中參數(shù)指標正常，功能正常。
 7.1.2 溫度沖擊測試（Thermal Shock）
測試環(huán)境：低溫箱：-30° C ；高溫箱：+70° C
測試目的：通過高低溫沖擊進行樣品應力篩選
試驗方法：使用高低溫沖擊箱，手機帶電池，設置成關機狀態(tài)先放置于高溫箱內(nèi)持續(xù)45分鐘后，在15秒內(nèi)迅速移入低溫箱并持續(xù)45分鐘后，再15秒內(nèi)迅速回到高溫箱。此為一個循環(huán)，共循環(huán)27次。實驗結束后將樣機從溫度沖擊箱（高溫箱）中取出，恢復2小時后進行外觀、機械和電性能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機表面噴涂無異變，結構無異常，功能正常，可正常。

7.1.3 跌落試驗（Drop Test）
測試條件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。（對于PDA手機,根據(jù)所屬公司質量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為1.3m）
測試目的： 跌落沖擊試驗
試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)進行跌落。對于直握手機，進行6個面的自由跌落實驗，每個面的跌落次數(shù)為1次，每個面跌落之后進行外觀、結構和功能檢查。對于翻蓋手機，進行8個面的自由跌落實驗；其中一半樣品合上翻蓋按直握手機的方法進行跌落，另一半樣品在跌正面和背面時須打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。跌落結束后對外觀、結構和功能進行檢查。
試驗標準：手機外觀，結構和功能符合要求。

7.1.4 振動試驗（Vibration Test）
測試條件：振幅：0.38mm/振頻：10~30Hz；振幅：0.19mm/振頻：30~55Hz；
測試目的： 測試樣機抗振性能
試驗方法：將手機開機放入振動箱內(nèi)固定夾緊。啟動振動臺按X、Y、Z三個軸向分別振動1個小時，每個軸振完之后取出進行外觀、結構和功能檢查。三個軸向振動試驗結束后，對樣機進行參數(shù)測試。
試驗標準：振動后手機內(nèi)存和設置沒有丟失現(xiàn)象，手機外觀，結構和功能符合要求，參數(shù)測試正常，晃動無異響。

7.1.5 濕熱試驗（Humidity Test）
測試環(huán)境：60° C，95%RH
測試目的： 測試樣機耐高溫高濕性能
試驗方法：將手機處于關機狀態(tài)，放入溫濕度實驗箱內(nèi)的架子上，持續(xù)60個小時之后取出，常溫恢復2小時，然后進行外觀、結構和功能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機外觀，結構和功能符合要求。

7.1.6 靜電測試（ESD）
測試條件：+/-4kV~+/-8kV。
測試目的： 測試樣機抗靜電干擾性能
試驗方法：
將樣機設置為開機狀態(tài)，檢查樣機內(nèi)存和功能。（內(nèi)存10條短信息和10個；使用功能正常）。將樣機放于靜電測試臺的絕緣墊上，并且用充電器加電使手機處于充電狀態(tài)（樣機與絕緣墊邊緣距離至少2英寸；兩個樣機之間的距離也是至少2英寸）。打開靜電模擬器，調(diào)節(jié)放電方式，分別選擇+/-4kV（接觸放電），~+/-8kV（空氣放電），對手機部位連續(xù)放電10次，并對地放電。每做完一個部位的測試，檢查手機功能、信號和靈敏度，并觀察手機在測試過程中有無死機，通信鏈路中斷，LCD顯示異常，自動關機及其他異常現(xiàn)象。
樣機需在與8922測試儀建立起呼叫連接的狀態(tài)下進行各個放電方式、級別和極性的測試。
試驗標準：在+/-4Kv 和 +/-8Kv時出現(xiàn)任何問題都要被計為故障。

備注：靜電釋放位置的確定要依據(jù)產(chǎn)品的具體情況進行定義。

7.1.7室溫下參數(shù)測試 （Parametric Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的： 測試結束后參數(shù)對比
測試方法：使用8960/8922測試儀，參照附件1項目列表，對所有樣品進行參數(shù)指標測試。
測試標準：所有附件1中參數(shù)指標正常，功能正常。

7.2.氣候適應性測試 （Climatic Stress Test）
樣品標準數(shù)量：一般氣候性測試 4 臺； 惡劣氣候性測試 2 臺。共8臺。
測試周期：7 天。
測試目的： 模擬實際工作環(huán)境對產(chǎn)品進行性能測試
測試流程：見下圖。

一般氣候性測試 惡劣氣候性測試
A： 一般氣候性測試：
7.2.1.高溫/低溫參數(shù)測試（Parametric Test）
測試環(huán)境：-10° C /+55° C
測試目的：高溫/低溫應用性性能測試
試驗方法：將手機電池充滿電，手機處于開機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上，調(diào)節(jié)溫度控制器到-10° C /+55°C。持續(xù)2個小時之后在此環(huán)境下進行電性能參數(shù)和功能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機電性能參數(shù)指標滿足要求，功能正常，外殼無變形。

7.2.2.高溫高濕參數(shù)測試（Parametric Test）
測試環(huán)境：+45° C，95%RH
測試目的：高溫高濕應用性性能測試
試驗方法：將手機電池充滿電，手機處于開機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上。持續(xù)48個小時之后，然后在此環(huán)境下進行電性能檢查，檢查項目見附表1。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機電性能指標滿足要求，功能正常，外殼無變形。


7.2.3.高溫/低溫功能測試（Functional Test）
測試環(huán)境：-40° C /+70° C
測試目的：高溫/低溫應用性功能測試
試驗方法：將手機處于關機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上。持續(xù)24個小時之后，取出，并放置2小時，恢復至常溫，然后進行結構，功能和電性能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機電性能指標滿足要求，功能正常，外殼無變形。
B：惡劣氣候性測試
7.2.4.灰塵測試（Dust Test）
測試環(huán)境：室溫
測試目的：測試樣機結構密閉性
試驗方法：將手機關機放入灰塵實驗箱內(nèi)?；覊m大小300目，持續(xù)3個小時之后，將手機從實驗箱中取出，用棉布和離子風槍清潔后進行檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機各項功能正常，所有活動元器件運轉自如，顯示區(qū)域沒有明顯灰塵。

7.2.5.鹽霧測試（Salt fog Test）
測試環(huán)境：35° C
測試目的：測試樣機抗鹽霧腐蝕能力
試驗方法：
溶液含量：5%的氯化鈉溶液。
將手機關機放在鹽霧試驗箱內(nèi)，合上翻蓋，樣機用繩子懸掛起來，以免溶液噴灑不均或有的表面噴不到。
樣機需要立即被放入測試箱。實驗周期是48個小時。實驗過程中樣機不得被中途取出，如果急需取出測試，要嚴格記錄測試時間，該實驗需向后延遲相同時間。
取出樣機后，用棉布和離子風槍清潔，放置48小時進行常溫干燥后，對其進行外觀、機械和電性能檢查。
試驗標準：手機各項功能正常，外殼表面及裝飾件無明顯腐蝕等異?，F(xiàn)象。


7.3.結構耐久測試 （Mechanical Endurance Test）
樣品標準數(shù)量：11 臺。
測試周期：7 天。
測試流程：
測試標準：
7.3.1.按鍵測試（Keypad Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：按鍵壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
測試方法：將手機設置成關機狀態(tài)固定在測試夾具上，導航鍵及其他任意鍵進行10萬次按壓按鍵測試。進行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。實驗中被測試的鍵的選擇根據(jù)不同機型進行確定并參考工程師的建議，應盡量不重復，盡可能多。
試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。


7.3.2.側鍵測試（Side Key Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：側鍵壽命測試
測試數(shù)量：1臺手機
測試方法：將手機設置成關機狀態(tài)固定在測試夾具上，對側鍵進行10萬次按壓按鍵測試。進行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。
試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。
7.3.3.翻蓋測試（Flip Life Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：翻蓋壽命測試
測試數(shù)量：4臺手機。
測試方法：將手機設置成開機狀態(tài)，固定在測試夾具上，進行5萬次開合翻蓋測試。進行到3萬次、4萬次、4. 5萬次、5萬次時進行手機翻蓋彈性及功能一次。
試驗標準：5萬次后，手機外觀，結構，及功能正常。

7.3.4.滑蓋測試（Slide Life Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：滑蓋壽命測試
測試數(shù)量：4臺手機。
測試方法：將手機設置成開機狀態(tài)，固定在測試夾具上，進行5萬次滑蓋測試。進行到3萬次、4萬次、4. 5萬次、5萬次時進行手機滑蓋手感及功能一次。
試驗標準：5萬次后，手機外觀，結構，及功能正常,滑蓋不能有松動（建議:垂直手機時不能有自動下滑的現(xiàn)象）

7.3.5. 重復跌落測試（Micro-Drop Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；7cm高度 ,20mmPVC板
測試目的：樣機跌落疲勞測試
測試數(shù)量：2臺。
測試方法：手機處于開機狀態(tài)，做手機正面及背面的重復跌落實驗，每個面的跌落次數(shù)為20,000次。進行到1萬次、1.5萬次、1.8萬次、2萬次時各檢查對手機進行外觀、機械和電性能的中間檢查。
測試標準：手機各項功能正常，外殼無變形、破裂、掉漆，顯示屏無破碎，晃動無異響。


7.3.6. 充電器插拔測試（Charger Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：充電器插拔]壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：將充電器接上電源，連接手機充電接口，等待手機至充電界面顯示正常后，拔除充電插頭。在開機不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。進行到2000次、2500次和3000次時進行中間/結束檢查一次。
檢驗標準：I/O接口無損壞，焊盤無脫落，充電功能正常。無異常手感。


7.3.7.筆插拔測試（Stylus Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：手機手寫筆插拔壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)，筆插在手機筆插孔內(nèi)，然后拔出，反復20，000次。進行到1萬次、1萬5千次、1萬8千次、2萬次時檢查手機筆插入拔出結構功能、外殼及筆是否正常。
檢驗標準：手機筆輸入功能正常，插入拔出結構功能、外殼及筆均正常。

7.３.８點擊試驗 （Point Activation Life Test）
試驗條件：觸摸屏測試儀（接觸墊半徑為3.75mm；硬度為40deg的硅樹脂橡膠）
測試目的：觸摸屏點擊壽命測試
樣品數(shù)量：1臺
試驗方法：將手機設置為開機狀態(tài)，點擊LCD的中心位置250,000次，點擊力度為250g；點擊速度：2次/秒；
檢驗標準：不應出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象；表面不應有損傷

7.３.9劃線試驗 （Lineation Life Test）
試驗條件：觸摸屏測試儀，直徑為0.8mm的塑料手寫筆或隨機附帶的手寫筆
測試目的：觸摸屏劃線疲勞測試
樣品數(shù)量：1臺
試驗方法：將手機設置為關機狀態(tài)，在同一位置劃線至少100,000次，力度為250g；
滑行速度：60mm/秒
檢驗標準：不應出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象；表面不應有損傷

7.3.10.電池/電池蓋拆裝測試（Battery/Battery Cover Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：電池/電池蓋拆裝壽命測試
測試數(shù)量：2臺。
試驗方法：將電池/電池蓋反復拆裝2000次。進行到1500次、1800次和2000次時檢查手機及電池/電池蓋各項功能、及外觀是否正常。
檢驗標準：手機及電池卡扣功能正常無變形，電池觸片、電池連接器應無下陷、變形及磨損的現(xiàn)象，外觀無異常。

7.3.11. SIM Card 拆裝測試（SIM Card Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；

測試目的：SIM卡拆裝壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：插上SIM卡，然后取下SIM卡，再重新裝上，反復1000次，每插拔100次檢查開機是否正常，讀卡信息正常。
檢驗標準：SIM卡觸片、SIM卡推扭開關正常，手機讀卡功能使用正常。


7.3.12. 耳機插拔測試（Headset Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：耳機插拔壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)，耳機插在耳機插孔內(nèi)，然后拔出，反復3000次。進行到2000、2500次和3000次時各檢查一次。
檢驗標準：實驗后檢查耳機插座無焊接故障，耳機插頭無損傷，使用耳機通話接收與送話無雜音（通話過程中轉動耳機插頭），耳機插入手機耳機插孔時不會松動（可以承受得住手機本身的重量）。

7.3.13.導線連接強度試驗（Cable Pulling Endurance Test--Draft）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：導線連接強度測試
實驗方法：選取靠近耳塞的一段導線，將其兩端固定在實驗機上，用10N±1N的力度持續(xù)拉伸6秒，循環(huán)100次。（其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù)）
檢驗標準：導線功能正常。被覆外皮不破裂，變形。


7.3.14.導線折彎強度試驗（Cable Bending Endurance Test--Draft）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：導線折彎疲勞測試
實驗方法：分別選取靠近耳塞和靠近插頭的一段導線，將導線的兩端固定在實驗機上，做0mm~25mm做折彎實驗3000次。（其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù)）
檢驗標準：導線功能正常被覆外皮不破裂，變形。


7.3.15.導線擺動疲勞試驗（Cable Swing Endurance Test--Draft）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：導線擺動疲勞測試
實驗方法:分別將耳機和插頭固定在實驗機上，用1N的力，以180°的角度反復擺動耳機末端3000次。（其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù)）
檢驗標準：導線功能正常被覆外皮不破裂。

7.4 表面裝飾測試 （Decorative Surface Test）
測試周期：4 天。
樣品標準數(shù)量：每種顏色6 套外殼。
測試流程：
7.4.1.磨擦測試（Abrasion Test - RCA）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：印刷/噴涂抗摩擦測試
試驗方法：將zui終噴樣品涂固定在RCA試驗機上，用175g力隊同一點進行摩擦試驗。每隔50次檢查樣品的表面噴涂。對于表面摩擦300cycles，側棱摩擦150Cycles。特殊形狀的手機摩擦點的確定由測試工程師和設計工程師共同確定。
檢驗標準：耐磨點涂層不能脫落，不可露出底材質地（對于噴涂、電鍍、IMD）；圖案或字體不能缺損、不清晰（對于絲印、按鍵）。
7.4.2.附著力測試（Coating Adhesion Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：噴涂附著力測試
試驗方法：選zui終噴涂的手機外殼表面，使用百格刀刻出100個1平方毫米的方格，劃格的深度以露出底材為止，再用3M610號膠帶紙用力粘貼在方格面，1分鐘后迅速以90度的角度撕脫3次，檢查方格面油漆是否有脫落。
檢驗標準：方格面油漆脫落應小于3%，并且沒有滿格脫落。

7.4.3.汗液測試（Perspiration Test）
測試環(huán)境：60 oC，95%RH
測試目的：表面抗汗液腐蝕能力
試驗方法：把濾紙放于酸性（PH=2.6）溶液充分浸透，用膠帶將浸有酸性溶液的濾紙粘在樣品噴漆表面，確保試紙與樣品噴漆表面充分接觸，然后放在測試環(huán)境中，在24小時檢查一次，48小時后，將樣品從測試環(huán)境中取出，并且放置2小時后，檢查樣品表面噴漆。
檢驗標準：噴漆表面無變色、起皮、脫落、褪色等異常。


7.4.4.硬度測試（Hardness Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：表面噴涂硬度測試
試驗方法：用2H鉛筆，在45度角下，以1Kg的力度在樣品表面從不同的方向劃出3~5cm長的線條3~5條。
檢驗標準：用橡皮擦去鉛筆痕跡后，在油漆表面應不留下劃痕。


7.4.５. 鏡面摩擦測試（Lens Scratch Test）
測試環(huán)境: 室溫（20~25° C）；
測試目的：鏡面抗劃傷測試
試驗方法：用Scratch Tester將實驗樣品固定在實驗機上，用載重（load）為500g的力在樣品表面往復劃傷50次。
檢驗標準：鏡面表面劃傷寬度應不大于100μm（依靠目視分辨、參照缺陷限度樣板）


7.4.6 紫外線照射測試（UV illuminant Test）
測試環(huán)境：50° C
測試目的：噴涂抗紫外線照射測試
試驗方法：在溫度為50°C，紫外線為340W/mm2的光線下直射油漆表面48小時。試驗結束后將手機外殼取出，在常溫下冷卻2小時后檢查噴漆表面。
檢驗標準：油漆表面應無褪色，變色，紋路，開裂，剝落等現(xiàn)象。

7.5.1. 低溫跌落試驗（Low temperature Drop Test）
測試環(huán)境：-10° C
樣機數(shù)量: 3臺
測試目的：樣機低溫跌落測試
試驗方法：將手機進行電性能參數(shù)測試后處于開機狀態(tài)放置在-10°C的低溫試驗箱內(nèi)1小時后取出，進行1.2米的６個面跌落，２個循環(huán)，要求3分鐘內(nèi)完成跌落，方法同常溫跌落。