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卡彎扭曲測試儀本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。功能：長邊彎曲、短邊彎曲、扭曲可同時測試。一次測試卡片數(shù)量：數(shù)量（長邊彎曲)≥5張、數(shù)量（短邊彎曲）≥5張、數(shù)量（扭曲）≥5張，共計數(shù)量≥15張。扭曲完成或機器暫停時，短邊、長邊彎曲槽和長邊扭曲槽都可自由取卡。

卡彎扭曲測試儀技術參數(shù)：

型號：HY(IC)

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長邊Z大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊Z小位移量為2mm±0.50mm，

短邊Z大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊Z小位移量為1mm±0.50mm，

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

夾具安裝尺寸*按照國家標準執(zhí)行。

IC卡動態(tài)彎扭試驗機用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

 卡彎扭曲測試儀公司承諾：

1.購機前，我們專門派技術人員為您設計Z佳的流程和方案

2.購機后，將免費指派技術人員為您調試安裝

3.整機保修一年，產(chǎn)品終身維護

4.常年供應設備的易損件及耗品確保儀器能長期使用