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超聲波儀器常見問題

超聲測(cè)試是什么？

超聲波非破壞性檢測(cè)，也被叫做超聲波NDT或者簡(jiǎn)單地UT，是一種通過使用高頻聲波刻畫被測(cè)件厚度或者內(nèi)部結(jié)構(gòu)的方法。用于超聲波檢測(cè)的頻率，或者斜度很多倍的高于人類聽力的界限，一般在500 KHz到20 MHz的范圍內(nèi)。

怎么工作的？

高頻聲波非常有方向性，它們傳播穿過一個(gè)媒介（像一塊鋼或者塑料）直到它們?cè)庥鲆粋€(gè)其他媒介（像空氣）的邊界,在這個(gè)點(diǎn)它們發(fā)射回它們的源頭。通過分析這些反射，測(cè)量被檢測(cè)件的厚度，或者發(fā)現(xiàn)裂縫的跡象，或者其他隱藏的內(nèi)部缺陷是可能的。

什么類材料可以檢測(cè)？

在工業(yè)應(yīng)用中，超聲波測(cè)試被廣泛的應(yīng)用到金屬，塑料，復(fù)合材料和陶瓷中。*不適合用常規(guī)設(shè)備進(jìn)行超聲波測(cè)試的普通工程材料是木材和木制紙產(chǎn)品。超聲波技術(shù)同樣廣泛的用于生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域進(jìn)行診斷成像和醫(yī)學(xué)研究。

超聲檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)是什么？

超聲檢測(cè)*的非破壞性。測(cè)試件不需要被切割，斷片，或者使用破壞性的化學(xué)藥品。只需要進(jìn)入一側(cè)，不像用機(jī)械測(cè)厚工具測(cè)量，比如測(cè)徑器和千分尺。使用超聲波檢測(cè)沒有潛在機(jī)械上海，不想放射線照相術(shù)。當(dāng)一個(gè)測(cè)試被適當(dāng)?shù)脑O(shè)置，結(jié)果是高可重復(fù)性和可靠的。

超聲檢測(cè)潛在的局限性是什么？

超聲波缺陷檢測(cè)需要一個(gè)訓(xùn)練過的操作員，他可以設(shè)置一個(gè)測(cè)試，有適當(dāng)?shù)膮⒖紭?biāo)準(zhǔn)和適當(dāng)?shù)慕Y(jié)果說明。檢測(cè)一些復(fù)雜幾何形狀的工件可能有挑戰(zhàn)性。超聲波測(cè)厚儀必須在尊重被測(cè)材料的基礎(chǔ)上校準(zhǔn)，應(yīng)用需要一個(gè)大范圍的厚度測(cè)量或者聲學(xué)上不同的材料測(cè)量需要多個(gè)設(shè)置。超聲波測(cè)厚儀比機(jī)械測(cè)量設(shè)備昂貴的多。

什么是超聲波探頭？

探頭是將一種能量形式轉(zhuǎn)換到另一種能量形式的任何設(shè)備。一個(gè)超聲波探頭將電子能量轉(zhuǎn)換成機(jī)械振動(dòng)（聲波），聲波轉(zhuǎn)換成電子能量。典型地，它們小，手持裝配，有供給特殊測(cè)試需要的多種頻率和類型。

什么是超聲檢測(cè)儀器？

一個(gè)超聲波測(cè)厚儀是在測(cè)試件內(nèi)產(chǎn)生聲脈沖的設(shè)備，非常的測(cè)量知道回波被接收到的時(shí)間間隔。已經(jīng)把被測(cè)材料聲速編程進(jìn)去，儀器使用聲速信息和測(cè)量時(shí)間間隔經(jīng)簡(jiǎn)單的關(guān)系計(jì)算厚度，【距離】等于【聲速】乘以【時(shí)間】。

超聲檢測(cè)儀器多？

在*化條件下，商業(yè)超聲波儀器可以達(dá)到高達(dá)+/- 0.001 mm（0.00004"）的精度，在大多數(shù)常用工程材料中精度有+/- 0.025 mm（0.001"），或者可能更高。影響精度的因素包括與被測(cè)材料聲速的一致性，聲音散射和吸收的程度，表面狀況和度，注意對(duì)于即將到來的應(yīng)用儀器需要校準(zhǔn)什么。

誰(shuí)使用超聲波儀器？

超聲波儀器主要的應(yīng)用是測(cè)量被腐蝕的管或箱的殘余厚度。測(cè)量在不需要進(jìn)入里面或者要求管或箱被耗盡的情況下快速簡(jiǎn)單的實(shí)現(xiàn)。其他重要的應(yīng)用包括測(cè)量模塑瓶和類似容器，渦輪葉片和其他精密儀器或者鑄件，小直徑醫(yī)學(xué)管形材料，橡皮輪胎和傳送帶，玻璃纖維船體，甚至隱形眼鏡的厚度。

什么是超聲波探傷儀？

聲波在材料中傳播將以一種可語(yǔ)言的方式反射回來，當(dāng)碰到諸如裂縫和氣孔的缺陷。一個(gè)超聲波探傷儀是產(chǎn)生和處理超聲波信號(hào)并創(chuàng)造一個(gè)波形顯示的儀器，它可以被一個(gè)訓(xùn)練過的操作員用于發(fā)現(xiàn)測(cè)試件中的隱藏缺陷。操作員鑒別來自好的部件的特征反射圖像，然后在反射圖像尋找可能是顯示缺陷的變化。

什么類型的缺陷可以被發(fā)現(xiàn)？

廣泛種類的裂紋，氣孔，脫膠，夾渣和影響結(jié)構(gòu)整體性的類似問題通過超聲波探傷儀可以全部被定位和測(cè)量出。在給定應(yīng)用中zui小可以被檢測(cè)到的缺陷尺寸取決于被測(cè)材料的類型和在考慮中的缺陷類型。

誰(shuí)使用超聲波缺陷探傷儀？

超聲波探傷儀在嚴(yán)格的安全相關(guān)和質(zhì)量相關(guān)應(yīng)用中被廣泛使用，包括結(jié)構(gòu)焊接，鋼鐵梁，鍛件，管道和箱，飛機(jī)發(fā)動(dòng)節(jié)車架，騎車車架，鐵路軌道，動(dòng)力渦輪和其他重型機(jī)械，鑄件和很多其他重要應(yīng)用。

其他什么類型儀器可用？

超聲波成像系統(tǒng)被用于產(chǎn)生高清晰度照片，類似于X-光，用聲波映射部件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。zui初發(fā)展用于醫(yī)學(xué)診斷成像的相控陣技術(shù)用于工業(yè)情形來造成代表性的圖片。大型到苗系統(tǒng)被用于航天工業(yè)和金屬加工廠商檢查原材料和zui后成型件的隱藏缺陷。超聲波脈沖發(fā)生器/接收器和信號(hào)分析被用于多種材料研究應(yīng)用。

常用的探傷方法有哪些？

答：我國(guó)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中目前規(guī)定的是超聲檢測(cè)（UT）、射線照相檢測(cè)（RT）、滲透檢測(cè)（PT）、磁粉檢測(cè)（MT）和渦流檢測(cè)（ET）五項(xiàng)，我國(guó)的國(guó)防科技工業(yè)系統(tǒng)zui近又新增加了聲發(fā)射（AT或AE）、計(jì)算機(jī)層析成象檢測(cè)（CT）、全息干涉和（或）錯(cuò)位散斑干涉檢測(cè)、泄漏檢測(cè)（LT）和目視檢測(cè)（VT）等五種方法。在歐美國(guó)家還把中子射線照相檢測(cè)（NRT）以及日本把應(yīng)變測(cè)試等也納入了無損檢測(cè)人員資格鑒定與認(rèn)證的無損檢測(cè)方法項(xiàng)目。

超聲檢測(cè)Ultrasonic Testing（縮寫UT）GB/T12604.1-2005 無損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)超聲檢測(cè)；

射線檢測(cè)Radiographic Testing（縮寫RT）GB/T12604.2-2005 無損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)射線照相檢測(cè);

磁粉檢測(cè)Magnetic particle Testing（縮寫MT）GB/T12604.5-2005 無損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)磁粉檢測(cè)；

滲透檢驗(yàn)Penetrant Testing （縮寫PT）GB/T12604.3-2005 無損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)滲透檢測(cè)；

渦流檢測(cè)Eddy current Testing（縮寫ET）GB/T12604.6-2005 無損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)渦流檢測(cè)；

非常規(guī)無損檢測(cè)技術(shù)有：

聲發(fā)射Acoustic Emission（縮寫AE）；

泄漏檢測(cè)Leak Testing（縮寫UT）；

光全息照相Optical Holography；

紅外熱成象Infrared Thermography；

微波檢測(cè)Microwave Testing

斜探頭的K值如何定義？

答：斜探頭折射角的正切值稱為K值，它等于斜探頭λ射點(diǎn)至反射點(diǎn)的水平距離和相應(yīng)深度的比值。

國(guó)外的斜探頭一般以折射角來劃分45，60，70度。它們是以超聲波在鋼中的折射角來標(biāo)記的。在中國(guó)國(guó)內(nèi)，則是以折射角β的正切值來標(biāo)記斜探頭，如K＝1，則β＝45。

探頭接口有哪些？

A）BNC接口，即國(guó)內(nèi)通常所說的Q9接口

B）Lemo 00接口

C）Lemo 01接口

D）Microdot接口，用于微、小型探頭

E）UHF接口，通常用于水浸探頭

便攜式探傷儀器出現(xiàn)問題時(shí)，應(yīng)該如何處理？

當(dāng)儀器出現(xiàn)一些非正常的現(xiàn)象時(shí)，如顯示亂碼時(shí)，按以下步驟進(jìn)行處理：

*步，關(guān)機(jī)后再開機(jī)，讓系統(tǒng)重新啟動(dòng)。

第二步，如問題仍存在，嘗試將儀器進(jìn)行恢復(fù)出廠設(shè)置。

注：使用恢復(fù)出廠設(shè)置時(shí)需謹(jǐn)慎。因?yàn)樵摬僮骺赡軙?huì)導(dǎo)致儀器內(nèi)保存的所有設(shè)置及數(shù)據(jù)丟失。

第三步，當(dāng)問題仍無法解決，請(qǐng)我公司有關(guān)維修事宜。

超聲波測(cè)厚儀/探傷儀通用的自動(dòng)校準(zhǔn)步驟，適用于Panametrics-NDT品牌?

步驟1：準(zhǔn)備和被測(cè)材料相同材質(zhì)，表面狀況相一致的厚、薄各一塊校準(zhǔn)試塊，試塊要求上下表面平行，并且厚度已知。

步驟2：將探頭耦合到薄的試塊上，進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)。

2.1當(dāng)厚度讀數(shù)穩(wěn)定時(shí)，按【CALZERO】+ENTER或【CAL】+【ZERO】（根據(jù)儀器的不同進(jìn)行選擇相應(yīng)的操作）

2.2探頭移離試塊，輸入已知的實(shí)際厚度并確認(rèn)輸入

步驟3：將探頭耦合到厚試塊上，進(jìn)行聲速校準(zhǔn)

3.1當(dāng)厚度讀數(shù)穩(wěn)定時(shí)，按【CALVEL】或【VEL】（根據(jù)儀器的不同進(jìn)行選擇相應(yīng)的操作）

3.2探頭移離試塊，輸入已知的實(shí)際厚度并確認(rèn)輸入

步驟4：按MEAS鍵完成校準(zhǔn)。

此時(shí)，儀器將自動(dòng)計(jì)算出試塊的聲速和探頭的零點(diǎn)。

在超聲探傷中和測(cè)量中為什么必須使用試塊？

超聲探傷中使用的試塊分為標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊兩大類。

標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的材質(zhì)、表面狀態(tài)、幾何形狀與尺寸，可用以評(píng)定和校準(zhǔn)超聲檢測(cè)設(shè)備。對(duì)比試塊是以特定方法檢測(cè)特定試件時(shí)所用的試塊。

探傷中使用試塊是為了保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性與可重復(fù)性、可比性。

超聲測(cè)量中使用的試塊是針對(duì)待測(cè)工件而特別制作的相同材質(zhì)、熱處理工藝的試塊。它的使用是為了校準(zhǔn)儀器的聲速及零點(diǎn)，以便得到比較準(zhǔn)確的測(cè)量厚度。

使用射線機(jī)（含源）注意事項(xiàng)

1.使用單位必須持有國(guó)家環(huán)保頒發(fā)的同位素工作許可證和個(gè)人上崗證

2.在使用射線設(shè)備（含源）時(shí)必須隨身攜帶個(gè)人射線報(bào)警器和現(xiàn)場(chǎng)射線射線劑量?jī)x

3.只有經(jīng)過嚴(yán)格、安全和標(biāo)準(zhǔn)的培訓(xùn)的放射線人員方可從事射線工作

4.放射線如出現(xiàn)突發(fā)性事故，要及時(shí)上報(bào)，并與我們，我公司將啟動(dòng)應(yīng)急方案，直赴現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行應(yīng)急處理

磁粉探傷注意事項(xiàng)

1.儀器在使用時(shí)，應(yīng)避免空載工作，防止產(chǎn)生不必要的溫升或損壞。

2.使用探頭時(shí)，端面與被檢測(cè)工件要保持良好的接觸。再按下手把上的充磁按鈕開關(guān)，此時(shí)探傷效果。探頭應(yīng)避免碰撞、跌落，保持清潔。

3.在使用中，如果發(fā)現(xiàn)探頭線包發(fā)熱嚴(yán)重，即停止使用，檢查故障原因，經(jīng)檢修后再使用，否則會(huì)損壞探頭。

4.儀器停止使用時(shí)，應(yīng)切斷面板上和配電板上的電源開關(guān)。

5.探傷結(jié)束后，在探頭的活動(dòng)關(guān)節(jié)部位，應(yīng)清除雜物并注潤(rùn)滑油。

滲透注意事項(xiàng)

1.使用時(shí)請(qǐng)勿向人體及餐具噴射。

2.請(qǐng)勿放在直射陽(yáng)光下曝曬

3.使用現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)避免火種。

4.誤入眼睛和皮膚用清水沖洗。

5.盡可能使用防護(hù)手套。

6.切勿讓小孩玩弄以免引起意外。

7.密閉容器使用注意通風(fēng)。

常用儀器維護(hù)

常見儀器的維護(hù)及注意事宜

a.儀器應(yīng)由專人保管和操作；

b.拔插探頭和探頭電纜線時(shí)要根據(jù)不同探頭接口類型而選擇合適的拆卸方式；

c.儀器按鍵只可用手操作，不可接觸其它硬質(zhì)或有邊角的工件；

d.由于儀器外殼大多為工程塑料，因此在檢測(cè)完帶油污工件后應(yīng)及時(shí)擦拭儀器，以防老化

常見儀器的鋰電池的保養(yǎng)

雖然鋰離子電池很少有鎳鎘電池的記憶效應(yīng)，記憶效應(yīng)的原理是結(jié)晶化，在鋰電池中幾乎不會(huì)產(chǎn)生這種反應(yīng)。但是，鋰離子電池在多次充放后容量仍然會(huì)下降。因此鋰電池的使用仍需注意以下幾點(diǎn)：

a.禁止過度充電和過度放電，這樣將對(duì)鋰離子電池的正負(fù)極造成*的損壞；

b.充電要在適合的溫度下進(jìn)行；

c.不必刻意保證每一次都放完電了再充

d.一段時(shí)間可做一次保護(hù)電路控制下的深充放以修正電池的電量統(tǒng)計(jì);

e.長(zhǎng)期不用的電池，應(yīng)充入一定的電量后放在陰涼的地方以減弱其內(nèi)部自身鈍化反應(yīng)的速度。

試塊的保養(yǎng)

試塊的保養(yǎng)：

a.應(yīng)在適當(dāng)?shù)奈恢镁幪?hào)并予以登記，以防混淆；

b.在使用和搬運(yùn)中要注意保護(hù)，防止碰撞、敲打、劃傷；

c.要注意防銹，常用細(xì)油布擦光，較長(zhǎng)時(shí)間不使用時(shí)，要清洗干燥后，涂上油，對(duì)平底孔要用尼龍塞或膠合劑等封口；

d.使用時(shí)要清除反射體內(nèi)的油污和銹蝕，以免影響檢測(cè)靈敏度；

e.要注意妥善保管，切忌重壓和火烤，防止變形。

8500高精度霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀的特殊保養(yǎng)

a.請(qǐng)勿用尖銳的物品（如起子、圓珠筆等）代替手指按面板，以免鍵盤損壞；

b.長(zhǎng)時(shí)間使用后，如果儀器面板校臟需要清洗時(shí)，應(yīng)用軟的濕抹布（拎干水）擦拭儀器面板；

c.儀器可防濺防塵，但不可浸入水中；

d.探頭不可與大平面的鐵磁性材料接觸，以免影響測(cè)量精度甚至是探頭損壞；

e.校準(zhǔn)時(shí)請(qǐng)先將目標(biāo)球放入夾具中（即貼有紅色標(biāo)簽和藍(lán)色標(biāo)簽的試塊），然后再將夾具放置在探頭頂部，如果先將夾具套在探頭上，再放入球，長(zhǎng)時(shí)間球會(huì)將試塊磕出凹坑，從而影響測(cè)量精度；

f.在拔插探頭電纜線、電源線以及電腦連接電纜時(shí)，應(yīng)在電纜線接口處的金屬?gòu)椈商滋幹Γ豢蓮?qiáng)行拽電纜線；

g.目標(biāo)球?yàn)殇撉颍遣讳P鋼球，因此在使用時(shí)球不能沾水，以免造成探頭和鋼球生銹而影響測(cè)量精度