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Fluke Corporation 熱像儀可望可及，問題點即拍即得
LED簡介
LED (Light Emitting Diode)，又稱發(fā)光二極管，是利用固體半導體芯片作為發(fā)光材料，當兩端施加正向電壓時
，半導體中的載流子發(fā)生復合，放出過剩的能量而引起光子發(fā)射產生可見光、遠紅外、近紅外光。
LED是一種新型的固態(tài)光源，已經在特殊領域顯現(xiàn)出自身優(yōu)異的效果，各種類型的LED、利用LED作二次開發(fā)的產
品及與LED配套的產品發(fā)展迅速，新產品不斷上市，已發(fā)展成不少新型產業(yè)。展望將來，還期望更進一步地提高。
熱像儀在LED行業(yè)中有哪些主要應用點？
事實上，LED的實際壽命與工作溫度往往成反比，如LED使用壽命在工作溫度為74℃為10000小時、63℃為25000小
時，小于50℃時，則可為50000小時。根本原因是LED的光電轉換效率極差，大約只有15%至20%左右電能轉為光輸出，
其余均轉換成為熱能，因此，當大量使用高功率的LED于一塊模組，應用于高亮度的操作時，這些極差的轉換效率將
造成散熱處理的大問題。
熱像儀不僅在研發(fā)過程中能夠發(fā)揮作用，而且也可以應用在產品的品質管理等方面。
1 研發(fā)，主要是對LED模塊驅動電路（包括電源）、光源半導體發(fā)熱分布分析、及光衰測試等。
a）LED模塊驅動電路
在LED產品研發(fā)中，需要工程師進行一部分驅動電路設計，例如整流器電路模塊。利用熱像儀，工程師可以
迅速而便捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處，便于完善電路設計。
b）LED光源半導體芯片發(fā)熱
利用熱像儀，工程師可以所得到的光源半導體芯片發(fā)熱紅外熱圖，分析出其芯片在工作時的溫度，以及溫度
的分布情況，在此基礎，達到提高LED產品壽命的目的
c）光衰試驗
LED產品的光衰就是光在傳輸中的信號減弱，而現(xiàn)階段的LED大廠們做出的LED產品光衰程度都不相同，
大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關系，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術決定的。目前，市場上
的白光LED其光衰可能是向民用照明進軍的首要問題之一。
L E D 產 品 檢 測
LED產品擁有廣闊的市場前景勿庸置疑，尤其是在照明領域。如果LED光源廣泛應用
于照明領域將是人類照明*的一場革命。但受技術等因素的制約目前還不能廣泛推廣
。
熱像儀應用 — 制造業(yè)
2 品質管理
a）半導體照明：吹制燈泡均勻性
通過熱像儀抓拍產線玻璃吹泡的過程，進行參數(shù)修正，改善掐口工藝，可
以有效提高產品成品率，降低成本。
b）LED檢測芯片封裝前的溫度
LED芯片封裝前檢測溫度可以避免封裝后因溫度異常，降低廢品率。此階段手不能接觸表面，熱像儀能夠很好
的幫助客戶發(fā)現(xiàn)此處的問題，作為流水線檢測工具。
c）LED成品顯示屏開機測試
LED顯示屏完成后，要做zui后驗收，通過不同顏色的測試來看屏幕是否符合交貨的要求，目前大多數(shù)企業(yè)都沒有
這個流程。使用熱像儀后，能夠為廠家完善產品檢測標準，提高產品質量。
典型客戶
飛利浦、松下等。
紅外熱像儀的*作用
在使用熱像儀前，LED產品企業(yè)一直都沒有很好的解決這個問題手段或方法。熱像儀能夠發(fā)揮*作用：
1 通過紅外線熱像儀檢測目標時，不需要斷電，操作方便，同時非接觸測量使原有的溫度場不受干擾；反應速度較快
，小于1毫秒。
2 Fluke熱像儀IR-Fusion技術：用戶采用FlukeIR-Fusion技術除了可以拍攝紅外圖像外，還可以同時捕獲一幅可
見光照片，并將其融合在一起，有助于*時間識別和定位故障。
拍攝時可能會遇到哪些問題？
可能由于觀察目標較小，使用160×120熱像儀時，會發(fā)生很難發(fā)現(xiàn)準確的故障點，需要我們更換320×240熱像儀
（甚至需要更換鏡頭）進行檢測。
如何才能拍攝紅外熱像？
使用熱像儀進行拍攝時，若要得到一幅的紅外熱圖，我們建議：
1 需要分辨較小溫差的場合，盡量選擇熱靈敏度較高的熱像儀；
2 先用自動模式測量溫度范圍；然后手動設置水平及跨度，將溫度范圍設置在zui小，并包含有先前測量的溫度范圍。
LED芯片封裝
LED成品測試
紅外熱像