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電子元器件環(huán)境應力可靠性篩選：

電子元器件生產(chǎn)廠家出廠前進行的篩選稱為一次篩選或成品篩選。電子元器件使用單位根據(jù)使用的需要進行的再次篩選稱為二次篩選或補充篩選。本文所指的環(huán)境應力篩選為二次篩選。由于電子元器件的壽命特性服從經(jīng)典的浴盆曲線，即產(chǎn)品早期失效率較高，使用一段時間后，其失效率有減小的趨勢。環(huán)境應力篩選就是使電子產(chǎn)品失效率盡早進入浴盆曲線底部，從而達到提高電子元器件可靠性的目的。雖然環(huán)境應力篩選本身不能提高產(chǎn)品的固有可靠性，但是，它可以利用外加應力或檢測等手段，將早期失效的產(chǎn)品從整批產(chǎn)品中剔除掉，以達到提高批產(chǎn)品可靠性的目的。由于直升機機載電子產(chǎn)品的可靠性和安全性要求都比較高，因此，電子元器件在裝機前應進行環(huán)境應力篩選，合格后才允許裝機使用。

半導體二極管篩選項目：

1、外觀檢查

2、常溫初測

3、溫度沖擊

4、常溫中測

5、高溫反偏

6、常溫終測

7、低溫測試

8、高溫測試

篩選中用到的測試設備有：恒溫恒濕箱，高低溫試驗箱，冷熱沖擊試驗箱等試驗設備，東莞市科文試驗設備有限公司專業(yè)生產(chǎn)可靠性測試設備。

常溫初測需在常溫下按產(chǎn)品的詳細規(guī)范或規(guī)范規(guī)定的條件，檢測半導體二極管的正向電壓降、高反向工作電壓下的反向漏電流等電特性，應符合產(chǎn)品詳細規(guī)范或規(guī)范要求。

半導體二極管的溫度沖擊按GJB128A中的方法進行溫度沖擊試驗，硅管一般取低溫-55℃，高溫+125℃；鍺管一般取低溫-55℃，高溫+85℃。

環(huán)境應力篩選是元器件可靠性工作的重要環(huán)節(jié)，其所帶來的長遠的潛在效益不容忽視。