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更新時(shí)間:2024-11-18 10:21:55瀏覽次數(shù):40次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)導(dǎo)波雷達(dá)發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測(cè)組件(鋼纜或鋼棒)傳播,遇到被測(cè)介質(zhì),由于介電常數(shù)突變,引起反射,一部分脈沖能量被反射回來(lái)。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時(shí)間間隔與到被測(cè)介質(zhì)的距離成正比。容器中存在兩種不同介
導(dǎo)波雷達(dá)發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測(cè)組件(鋼纜或鋼棒)傳播,遇到被測(cè)介質(zhì),由于介電常數(shù)突變,引起反射,一部分脈沖能量被反射回來(lái)。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時(shí)間間隔與到被測(cè)介質(zhì)的距離成正比。
容器中存在兩種不同介質(zhì),當(dāng)上面一層的介質(zhì)介電常數(shù)較小,而下面的介質(zhì)介電常數(shù)較大時(shí),高頻微波脈沖沿著探測(cè)組件傳播遇到上層介質(zhì)時(shí),由于其介電常數(shù)較小,因而有極少的能量被這一層介面反射,而大部分能量穿透上層介質(zhì)繼續(xù)向下傳播,遇到兩層的介面時(shí),由于下層介質(zhì)的介電常數(shù)較大,因而會(huì)有較大的能量被反射回來(lái)。因而導(dǎo)波雷達(dá)是可以測(cè)量?jī)煞N不同介質(zhì)的介面,其測(cè)量條件是上層介質(zhì)不導(dǎo)電或其介電常數(shù)比下層介質(zhì)介電常數(shù)小10以上。
特 點(diǎn)
由于采用了的微波處理器和***特的EchoDiscovery回波處理技術(shù),導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)可以應(yīng)用于各種復(fù)雜工況。
多種過(guò)程連接方式及探測(cè)組件的型式,使得CDGW系列導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)適用于各種復(fù)雜工況。如:高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)等。
采用脈沖工作方式,導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)發(fā)射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi),對(duì)人體及環(huán)境均無(wú)傷害。
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