ACCRETECH東京精密CT裝置ZEISS METROTOM 1

ACCRETECH東京精密CT裝置ZEISS METROTOM 1

X射線CT裝置ZEISS METROTOM 1,ZEISS METROTOM,ZRE；齒輪測(cè)量分析程序GEAR PRO

手動(dòng)3D坐標(biāo)測(cè)量機(jī)創(chuàng)新軟件XYANA smart,Calypso

ZEISS METROTOM 1特征：

是一款為每個(gè)人帶來(lái)可靠 X 射線技術(shù)和無(wú)損質(zhì)量保證的CT系統(tǒng)?？梢暂p松檢測(cè)測(cè)量室中工件的隱藏缺陷。

蔡司 METROTOM 1易于使用的CT技術(shù)使任何人只需一次掃描即可高效地執(zhí)行復(fù)雜的測(cè)量和檢查任務(wù)。

測(cè)量和檢查接觸式或光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)無(wú)法檢測(cè)到的隱藏缺陷和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。此外，由于結(jié)構(gòu)緊湊，安裝面積小，可以很容易地安裝在測(cè)量室內(nèi)，測(cè)量和檢查可以同時(shí)在測(cè)量室內(nèi)進(jìn)行。

該軟件非常適合初學(xué)者，提供完整的CT流程，從掃描設(shè)置和重建到數(shù)據(jù)評(píng)估和報(bào)告。例如，可以準(zhǔn)確評(píng)估形狀、孔隙率、空隙率、內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組裝條件等。即使是最小的缺陷也會(huì)被每張斷層掃描圖可視化，并且可以使用各種標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)進(jìn)行評(píng)估。此外，此軟件就可以將組件體積數(shù)據(jù)導(dǎo)入到項(xiàng)目中，以進(jìn)行趨勢(shì)分析并將捕獲的3D數(shù)據(jù)與CAD模型進(jìn)行比較。

METROTOM區(qū)別于現(xiàn)有的X射線CT觀察系統(tǒng)，采用在3D坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、超高精度定位臺(tái)、高分辨率平板探測(cè)器和CALYPSO CT軟件中培養(yǎng)的每個(gè)軸的控制技術(shù)。除了結(jié)構(gòu)分析、功能檢查和缺陷分析等非破壞性檢查外，我們還提供廣泛的解決方案，包括樹脂成型件和鋁壓鑄件等復(fù)雜工業(yè)產(chǎn)品內(nèi)部形狀的結(jié)構(gòu)比較，以及內(nèi)外尺寸的高精度測(cè)量。

ZRE可以從測(cè)量結(jié)果的點(diǎn)云數(shù)據(jù)中通過(guò)幾個(gè)簡(jiǎn)單的步驟創(chuàng)建一個(gè)3D CAD模型。與傳統(tǒng)軟件不同，不需要粘貼三角形網(wǎng)格。表面可以直接從點(diǎn)云數(shù)據(jù)生成。

通過(guò)反映和修正成型品的3D CAD模型與模具CAD模型中的測(cè)量數(shù)據(jù)之間的誤差，可以對(duì)模具進(jìn)行修正，這在過(guò)去是由操作員根據(jù)成型品的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行直觀調(diào)整. 量化數(shù)量。

GEAR PRO特征：由于螺桿轉(zhuǎn)子是壓縮泵，不像齒輪，它不傳遞動(dòng)力。測(cè)量是根據(jù)齒形設(shè)計(jì)點(diǎn)云數(shù)據(jù)創(chuàng)建的規(guī)格進(jìn)行的。蝸輪是通過(guò)組合蝸桿和蝸輪來(lái)傳遞動(dòng)力的齒輪。它是一個(gè)測(cè)量蠕蟲的程序。根據(jù)各種模數(shù)、基準(zhǔn)圓直徑、扭轉(zhuǎn)角（需要轉(zhuǎn)臺(tái)）等規(guī)格進(jìn)行測(cè)量。

XYANA smart特征：

支持觸摸輸入和按鍵輸入的直觀用戶界面。功能、條件和測(cè)量結(jié)果等項(xiàng)目以大尺寸顯示，便于查看和按下。

可以在短時(shí)間內(nèi)完成準(zhǔn)備和測(cè)量。是一種功能，可以自動(dòng)判斷幾何元素（點(diǎn)、直線、圓、球、平面、圓柱、圓錐等），同時(shí)考慮測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量和方向。

無(wú)需每次在測(cè)量前定幾何元素，從而實(shí)現(xiàn)高效測(cè)量。

坐標(biāo)系輔助功能可以支持不熟悉3D坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的人進(jìn)行坐標(biāo)系設(shè)置，而坐標(biāo)系自動(dòng)設(shè)置功能對(duì)于經(jīng)驗(yàn)豐富的操作員來(lái)說(shuō)非常有用，可以直觀地看到坐標(biāo)系設(shè)置所需的探測(cè)點(diǎn)。