高低溫沖擊老化試驗(yàn)箱型號適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn).特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗(yàn).該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫速變的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn).該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出測試廠檢驗(yàn)用。

高低溫沖擊老化試驗(yàn)箱型號是用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫及溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在Z短時間內(nèi) 試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì).適用的對象包括電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)及防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化。

為了保證試驗(yàn)機(jī)降溫速率和Z低溫度的要求，高低溫沖擊老化試驗(yàn)箱采用套進(jìn)口法封閉壓縮機(jī)或德半封閉壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)。復(fù)疊式冷系統(tǒng)包含個高溫制冷循環(huán)和個低溫制冷循環(huán)，其連接容器為蒸發(fā)冷凝器，蒸發(fā)冷凝器是也到能量傳遞的作用，將工作室內(nèi)熱能通過兩級制冷系統(tǒng)傳遞出去，實(shí)現(xiàn)隆溫的目的。制冷系統(tǒng)的設(shè)計應(yīng)用能量調(diào)節(jié)技術(shù)，種行之有效的處理方式既能保證在制冷機(jī)組正常運(yùn)行的情況下又能對制冷系統(tǒng)的能耗及制冷量進(jìn)行有效的調(diào)節(jié)，使制冷系統(tǒng)的運(yùn)行費(fèi)用和故障率下降到較為經(jīng)濟(jì)的狀態(tài)。