GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)主要介紹

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)是我院研制的即可低溫測試D33系數(shù)，又可以高溫測試D33系數(shù)。主要是針對高低溫壓電陶瓷材料和薄膜材料的測試。

二、主要應(yīng)用領(lǐng)域：無損檢測超聲檢測，醫(yī)療超聲檢測，航空航天，石油天然器，汽車物聯(lián)網(wǎng)，工業(yè)

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)

1、d33測量范圍：1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC)

2、力顯示：0.01-4N

3、電源：電壓220V

4、溫度范圍：溫度-100℃至+500℃

5、溫控精度：溫度顯示精度0.01℃，溫度控制精度±0.1℃，溫度漂移優(yōu)于±0.1℃內(nèi)，超調(diào)≤0.1℃。

6、升溫斜率：0.00至5.00℃/min，典型值2.00℃/min。

7、間隔保溫：0.10至50.00℃/點(diǎn)，保溫5分鐘即可達(dá)到溫度穩(wěn)定狀態(tài)。

8、樣品夾具：夾持雙面電極樣品，直徑小于30mm，厚度小于5mm。

9、測量環(huán)境：低溫、高溫、空氣等。

10、電極材料：耐高溫電極。

11、制冷方式：液氮控制系統(tǒng)

12、顯示：液晶顯示

13、采集方式：USB2.0高速數(shù)據(jù)

14、總重量: 15kg左右。

15、軟件：專用軟件自動(dòng)測試溫度與壓電系數(shù)的關(guān)系變化

高溫鐵電材料測量系統(tǒng)

GWTF-300GWTF-300         GWJDN-1000型寬頻高溫介電測量系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：高溫介電，

GWJDN-1000型高溫介電測量系統(tǒng)（2019款）高溫介電測量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設(shè)備，完成不同參數(shù)的測試。是高溫介電測試系統(tǒng)測試裝置，是國家科研院所和高等學(xué)府的重要材料測試設(shè)備。

一、主要用途：

1、測量以下參數(shù)隨溫度（T）、頻率（f）、電平（V）、偏壓（Vi）的變化規(guī)律：

2、測量電容（C）、電感（L）、電阻（R）、電抗（X）、阻抗（Z）、相位角（￠）、電導(dǎo)（G）、電納（B）、導(dǎo)納（Y）、損耗因子（D）、品質(zhì)因素（Q）等參數(shù)，

3、同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料導(dǎo)電、介電性能的復(fù)介電常數(shù)（εr）和介質(zhì)損耗（D）參數(shù)。

4、可測試低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能

5、可以根據(jù)用戶需求，定制開發(fā)居里溫度點(diǎn)Tc、機(jī)電耦合系數(shù)Kp、機(jī)械品質(zhì)因素Qm及磁導(dǎo)率μ等參數(shù)的測量與分析。系統(tǒng)集低溫環(huán)境、溫度控制、樣品安裝于一體；具有體積小、操作簡單控溫精度高等特點(diǎn)。

二、主要技術(shù)參數(shù)：

主要技術(shù)參數(shù)：

1、溫度范圍： 室溫-1000℃

2、測溫精度： 0.1℃

3．升溫速度： 1—20℃/min

4、控溫模式： 程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口： RS-485

8、電極材質(zhì)： 鉑銥合金

9、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

10、下電極：直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層

11、保護(hù)電極：  帶保護(hù)電極，消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺(tái)帶屏蔽罩

13、夾具升降控制： 帶程序和手動(dòng)控制，可更換夾具的電動(dòng)升降裝置

14、熱電偶 ：熱電偶探頭與樣品平臺(tái)為同一熱沉，測控溫度與樣品溫度保持一致

15、無電極樣品尺寸：直徑小于40mm，厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm，厚度小于8mm

17、軟件功能：自動(dòng)分析數(shù)據(jù)，可以分類保存，樣品和測量方案結(jié)合在一起，生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、測量方案：    提供靈活、豐富的測試設(shè)置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

20、配套設(shè)備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀進(jìn)行測量

21、配套設(shè)備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

23、測試頻率：20HZ-10MHZ

24、測試電平:100mV—2V

25、分辨率：1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本準(zhǔn)確度: 0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數(shù)測量：多功能圖形和參數(shù)測量

31、接口方式: RS232C或HANDLER

HTIM-600C型材料高溫電阻率測試儀主要技術(shù)參數(shù)

HTIM-600C型材料高溫電阻率測試儀

關(guān)鍵詞：電阻率，體電阻，表面電阻，CNAS

HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設(shè)備，可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測量設(shè)備，該儀器采用使用方法多樣化，2000V，6.4ms的采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查，2×10^19 Ω顯示，0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設(shè)計(jì)的懸浮式電路，能不受測量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測量，并且運(yùn)用在產(chǎn)線中實(shí)現(xiàn)高速測量?？蓪?shí)現(xiàn)絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)，可以直接測量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時(shí)間變化的曲線，高溫絕緣材料電阻率測試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的應(yīng)用。

一、主要用途：適用于新材料評估的特性:

1、用于陶瓷元件的絶縁劣化試驗(yàn)

2、貼片電容的IR測量

3、MLCC（多層陶瓷電容器）的絕緣測量

4、光伏電池薄膜的絕緣測量

5、噪音濾波器的絕緣（高阻）測量

6、液晶設(shè)備的絕緣測量

7、涂層（涂料）的表面電阻率測量

8、外殼的帶電度的測量

9、二極管的微笑泄漏電流測量

10、光電耦合器的初級/次級絕緣（高電阻）測量

11、打印機(jī)墨粉輥軸的絕緣測量

12、用于針對半導(dǎo)體廠家的絕緣密封件的評估試驗(yàn)

13、用于組裝在貼片機(jī)、分選機(jī)、自動(dòng)化設(shè)備中

一、產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、多種使用方法的超絕緣計(jì),提供CNAS計(jì)量合格證書

2、能夠作為IR表、靜電計(jì)等高電阻計(jì)，以及作為皮安表這種微小電流計(jì)來使用，使用方法非常豐富的測量儀器。

2、能不受測量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測量，并且運(yùn)用在產(chǎn)線中實(shí)現(xiàn)高速測量2000V輸出

3、偏差1/60，抗噪音性能300倍, 通過全新的SM懸浮式電路和三軸連接器的組合，大幅提高抗噪音性能。

4、輸出電壓從0.1V到1000V，能夠以0.1V為單位任意設(shè)置

5、6.4ms的高速檢查, 高速檢查和50mA的預(yù)充電功能的組合可以實(shí)現(xiàn)高產(chǎn)量的MLCC檢查。

5、高溫爐膛，耐高溫、抗氧化的測試夾具,提供CNAS計(jì)量合格證書

二、主要技術(shù)參數(shù)：

1、體積電阻率和表面電阻率測試范圍10的4次方Ω.cm~10的15次方Ω.cm；

2、測試電壓：10V、50V、100V、250V、500V、1000V

3、電極材質(zhì)：600℃不氧化，三電極尺寸為25mm（被保護(hù)電極直徑）、38mm（保護(hù)電極內(nèi)徑）、50mm（保護(hù)電極外徑），樣品厚度在3mm以內(nèi)；

3、測量精度：①電阻≤1010Ω時(shí)，精度±5％；電阻>1010Ω時(shí)，精度±10%；②電壓＜100V時(shí)，精度±5%，電壓≥100V時(shí)，精度±2％；

2、溫度范圍;室溫~600℃；

3、控溫精度：溫度≤300℃，精度±1℃，溫度＞300℃，精度±2℃；控溫設(shè)備需有測溫口；（能夠通過計(jì)量CNAS認(rèn)證）

4、測試軟件：①可設(shè)置連續(xù)升溫測試，得到不同溫度下體積電阻率⒈礱嫻繾杪示嚀逯擔(dān)苯擁玫教寤繾杪?-溫度曲線、表面電阻率-溫度曲線；

5、溫度精度：可設(shè)置在某一具體溫度點(diǎn)測試，得到體積電阻率、表面電阻率在不同時(shí)間點(diǎn)的具體值，直接得到體積電阻率-時(shí)間曲線、表面電阻率-時(shí)間曲線；

5、電腦要求：windows10 系統(tǒng)，內(nèi)存16G以上，CPU四核；

6、升溫速率0℃/min~ 10℃/min（不做計(jì)量要求）；

7、能通氮?dú)?，測試時(shí)在高溫和氮?dú)猸h(huán)境下測試；

9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410標(biāo)準(zhǔn)；

10、排氣口有過濾裝置；

HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測試儀技術(shù)參數(shù)

HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測試儀

關(guān)鍵詞：電阻率，導(dǎo)電，合金高溫

電阻率表征技術(shù)是典型的金屬、合金相變行為研究手段，比如在先進(jìn)鋼中的碳運(yùn)動(dòng)行為分析、或是合金析出動(dòng)力學(xué)研究、以及形狀記憶合金的預(yù)相變行為表征的方面。電阻率對這些相變行為則非常敏感，應(yīng)用電阻率手段研究合金析出動(dòng)力學(xué)行為也是非常重要的手段，是一種可以對合金時(shí)效析出過程全時(shí)段實(shí)現(xiàn)監(jiān)控的手段。同時(shí)，通過電阻率的演化規(guī)律，可以清晰的判斷HTRT-1000本系統(tǒng)主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源、高精度 

:室溫至1oC。

6*10-2Pa。

200uA-10mA,通過計(jì)算機(jī)通信控制實(shí)現(xiàn)連續(xù)可調(diào)（或定制），測量到4.計(jì)算機(jī)：通信控制溫控儀加熱曲線，實(shí)時(shí)接收當(dāng)前溫度值并存儲(chǔ)顯示。結(jié)合溫度值顯示電阻率5. 低溫裝置：低溫實(shí)驗(yàn)可延伸6. app遠(yuǎn)程監(jiān)控：手機(jī) 

1、控溫范圍；℃℃，精度：℃℃，精度±℃

  阻：10-6～10-1 Ω1×1×1×-mm， 分辨率：10-8

 材料尺寸：4、 四線探針；0.5 mm-0.7mm 

6、外形尺寸：主  1300mm（長）×500mm（高）

   重：≤<span font-size:16px;"="">60kg

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測試儀

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測試儀以測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率.

應(yīng)用范圍：1、測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測均可以測試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

5、擁有自分析軟件，獨(dú)立分析，過程自動(dòng)控制，界面友好。

6、國內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域

技術(shù)指標(biāo)要求

測量溫度：   室溫-600℃

同時(shí)測試樣品數(shù)量：  1個(gè)

測量功能：   材料賽貝克系數(shù)和電阻率Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率

控溫精度：   0.5K

測量原理：   塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法

測量精度：   塞貝克系數(shù)：＜±7％；電阻系數(shù)：＜±10％

樣品尺寸; 塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長，薄膜材料：≥50 nm

熱電偶導(dǎo)距:  ≥6 mm

電   流； 0 to 160 mA

加熱電極相數(shù)/電壓：        單相，220V，