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可定制帶系統(tǒng)的涂層測厚

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。

儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
		隨機附送儀器箱（儀器的舉例）

特點概述

大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈

校準選項

出廠時已校準，立即可用

在未知涂層上校準*

零校準*

在無涂層的基體上一點和多點校準*

在有涂層的基體上校準*

校準數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中，也可以隨時調(diào)出

可選擇的顯示模式，以Z佳形式去完成測量任務(wù)*

輸入和極限監(jiān)視*

在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理*

可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport

統(tǒng)計*

	可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)
	Z小值、Z大值、測量個數(shù)、標準偏差和極限監(jiān)視
	局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）
	在線統(tǒng)計，所有統(tǒng)計值概括

LEPTOSKOP 2042 帶有45°微型探頭

* 取決于配置級別

3種配置級別以更好的完成測量人任務(wù)

LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別

如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或?qū)I(yè)型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲”，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。
		通過解鎖代碼可以很方便的升級（證書舉例）

舉例：儀器上的用戶界面圖像

選擇菜單項目（例如：語言清單）

A	語言清單
B	卷軸條作為導(dǎo)航輔助

清晰的統(tǒng)計讀數(shù)值和當(dāng)前測量值

電腦讀數(shù)也被存儲在目錄和文件中

多樣的探頭

多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做特殊探頭。

	探頭類型	測量方法	測量范圍	訂貨號
	標準探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測量的地方	Fe	0 - 3000 祄	2442.100
	標準探頭 NFe 0?/font>	NFe	0 - 1000 祄	2442.130
	標準探頭 NFe S 0?/font>	NFe	0 - 3750 祄	2442.140
	標準探頭 Fe S 0?br>用于測量表面有寬闊的涂層厚度	Fe	0.5 - 20 mm	2442.120
	標準探頭 Fe 90?br>用于測量難接近的部位，例如：管子的內(nèi)部	Fe	0 - 3000 祄	2442.110
	雙晶探頭用于測量表面有寬闊的涂層例如：管子的內(nèi)部涂層.	Fe	0.5 - 12.5 mm	2442.200
	微型探頭0?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：鉆孔的底部	FeNFe	0 - 500 祄	2442.300 2442.310
	微型探頭0?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：鉆孔的底部	FeNFe	0 - 500 祄	2442.300 2442.310
	微型探頭 45?用于測量小尺寸和難接近的部位	FeNFe	0 - 500 祄	2442.320 2442.330
	微型探頭 45?用于測量小尺寸和難接近的部位	FeNFe	0 - 500 祄	2442.320 2442.330
	微型探頭 90?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：管子的內(nèi)壁和鉆孔	FeNFe	0 - 500 祄	2442.340 2442.350
	微型探頭 90?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：管子的內(nèi)壁和鉆孔	FeNFe	0 - 500 祄	2442.340 2442.350
注：點擊單獨的探頭圖片，可以得到更多詳細信息

技術(shù)資料

	數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或　USB
	電源：電池、充電電池、USB或外接電源
	測量范圍: 0 - 20000 um （取決于探頭）
	測量速度:　每秒測量２個數(shù)值
	存儲: Z多 9999 個數(shù)值，140個文件
	誤差: 涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄（校準后）涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄涂層厚度　> 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄

附件

	試塊和膜片
	探頭定位裝置?。ㄟm用于微型探頭）
	定位輔助裝置（適用于微型探頭）
	電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
	電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸?shù)?span id="yjj9jrp" class="en">Windows 程序里