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QUC-200數(shù)顯式磁性測厚儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： 
GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74 ，
本儀器適于測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測定。

QUC-200數(shù)顯式磁性測厚儀主要技術(shù)參數(shù)：
■測量范圍： O-200μm
■測量精度：±（ 0.7μm+3%H ）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度

測厚儀原理分類：
測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分：
■點接觸式測厚儀
■面接觸時測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據(jù)其測試原理不同，又可分為以下幾種：
■激光測厚儀
■超聲波測厚儀
■涂層測厚儀
■X射線測厚儀
■白光干涉測厚儀
■電解式測厚儀

測厚儀應(yīng)用：
■薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。
■涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
■超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
■激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
■X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。