隨著時(shí)間的流逝，我們也從中學(xué)到了經(jīng)驗(yàn)，淘到了知識(shí)。當(dāng)客戶為我們建議時(shí)，我們也會(huì)分析并進(jìn)行查找其中的來(lái)龍去脈。發(fā)現(xiàn)在自己的設(shè)備有什么不足的地方時(shí)也會(huì)積極的進(jìn)行修改，以求達(dá)到更加的設(shè)備供應(yīng)給客戶。

　　隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC（電工委員會(huì)）所標(biāo)準(zhǔn)化。注意事項(xiàng)：USPCT現(xiàn)在稱為HAST（高度加速應(yīng)力試驗(yàn)）。

高壓加速老化試驗(yàn)箱是提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度）與工作應(yīng)力（施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等），加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

　　現(xiàn)在高壓加速老化試驗(yàn)箱工作室為圓筒狀，在工作室的底部可存水，另配置加熱管，在做試驗(yàn)時(shí)把水燒成蒸汽，水因蒸發(fā)產(chǎn)生壓力，達(dá)到箱內(nèi)壓力越大箱門越緊的反壓效果。以達(dá)到產(chǎn)品試驗(yàn)所要求的溫度，濕度，壓力條件。高壓加速老化試驗(yàn)箱采用全自動(dòng)補(bǔ)充水位之功能,試驗(yàn)中斷.試驗(yàn)過(guò)程的溫度、濕度、壓力，是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來(lái)顯示的，而不是通過(guò)溫濕度的飽和蒸汽壓表計(jì)算出來(lái)的，能夠真正掌握實(shí)際的試驗(yàn)過(guò)程。高壓加速老化試驗(yàn)箱采用干燥設(shè)計(jì)，試驗(yàn)終止采用電熱干燥設(shè)計(jì)確保測(cè)試區(qū)（待測(cè)品）的干燥，確保穩(wěn)定性。的壓力/溫度對(duì)照顯示，*符合溫濕度壓力對(duì)照表要求。