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更新時(shí)間:2024-03-30 14:23:11瀏覽次數(shù):643次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)X系列是一款專業(yè)應(yīng)對(duì)各類芯片性能測(cè)試 的綜合型半自動(dòng)晶圓探針臺(tái),集成了電學(xué)、光波、微波等多種功能,高測(cè)試精度、運(yùn)行效率與系統(tǒng)穩(wěn)定性,可匹配多種測(cè)試應(yīng)用環(huán)境,能為各類晶圓和器件提供可靠性測(cè)試。
X系列是一款專業(yè)應(yīng)對(duì)各類芯片性能測(cè)試 的綜合型半自動(dòng)晶圓探針臺(tái),集成了電學(xué)、光波、微波等多種功能,高測(cè)試精度、運(yùn)行效率與系統(tǒng)穩(wěn)定性,可匹配多種測(cè)試應(yīng)用環(huán)境,能為各類晶圓和器件提供可靠性測(cè)試。
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