恒溫恒濕試驗箱電子制品評估試驗設(shè)備

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：

1、工作室尺寸：1000*1000*1000MM；

2、外形尺寸約：1250*1750*1910MM；

3、溫度范圍： -70℃ ～  150℃；

4、溫度波動度：≤±0.5℃；

5、溫度均勻度：≤±1℃；

6、溫度偏差：≤±2℃；

7、升降溫速率：

從 20～-40℃，約60min

從 20―100℃，約40min

8、濕度范圍：20%―98%R.H（AT 25℃～ 85℃）

9、濕度誤差： 2/-3%R.H（75%R.H以上），±5% R.H（75%R.H以下）

10、風(fēng)速：1.7～ 2.5m/s；

以上指標(biāo)均在環(huán)境溫度≤25℃，常壓，空載、無負(fù)荷條件下、距箱體內(nèi)壁1/6空間內(nèi)測試測得；

11、功率：約3.5Kw；  

12、電源：220V±10%V；50Hz；

滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法：

GB/T2423.22-87Nb      GJB1032-90          MIL-STD-2164/(E/C)   

GB/T2423.4-93         GB/T2423.34-86         GJB150.9-86  

恒溫恒濕試驗箱電子制品評估試驗設(shè)備

按照下列標(biāo)準(zhǔn)或其結(jié)合為依據(jù)而制造：

GB 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

GB/T電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備

GB電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法

GB電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法

GB電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B高溫試驗方法

GB電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Ca恒定濕熱試驗方法

GB電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db交變濕熱試驗方法