超聲波測(cè)厚儀MG2-DL使用雙晶探頭,從被測(cè)物體的一面就可以測(cè)量被腐蝕、有凹痕、被氧化或呈粒狀等其它較難測(cè)量物體的厚度。
超聲波測(cè)厚儀MG2-DL-技術(shù)參數(shù)：

◆增益調(diào)整 有
◆自動(dòng)增益優(yōu)化 有
◆回波回波 有
◆差分測(cè)量 有
◆穿透涂層 有
◆高低報(bào)警 有
◆數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 有（5000個(gè)厚度值）
◆USB接口 有
◆電池 AA電池×3工作125小時(shí)
◆外型尺寸 84×152.4×39.6mm
◆重量 0.34kg
◆技術(shù)規(guī)格 MG2-DL
◆顯示屏 液晶顯示（帶背光）
◆測(cè)量范圍 0.5---635mm
◆聲速范圍 0.762-13,999mm/μsec
◆顯示精度 0.1/0.01mm
◆凍結(jié)模式 有
◆顯示保留/空白 有
◆zui大/zui小值 有
◆探頭自動(dòng)識(shí)別 有
◆零位補(bǔ)償 有
◆測(cè)量速度 2點(diǎn)/秒;20點(diǎn)/秒
◆工作溫度 -10-50℃

是測(cè)量有內(nèi)部腐蝕的部件zui為理想的便攜式測(cè)厚儀，包括MG2-DL/MG2-DL-XT/MG2-DL-DL超聲波測(cè)厚儀。

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