涂層測(cè)厚儀QNix4200為磁性測(cè)厚儀，可以用來(lái)測(cè)量磁性基體上的涂鍍層；涂層測(cè)厚儀QNix4200為合測(cè)實(shí)業(yè)重點(diǎn)*產(chǎn)品，其價(jià)格低，測(cè)量范圍廣，精度高，目前已成為zui的涂層測(cè)厚儀之一。

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-技術(shù)參數(shù)：
●顯示 LCD液晶（帶背光）
●探頭 紅寶石固定式
●電源 2×1.5V干電池
●尺寸 100×60×27mm
●重量 110g
●磁性基體（Fe模式） 有
●測(cè)量范圍 QN4200：Fe:0-3000um
●顯示精度 0.1um
●精度 0-50um:≤±1um
●50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)
●1000-3000um≤±3%讀數(shù)
●zui小接觸面 10×10mm
●zui小曲率半徑 凸面：3mm；凹面：25mm
●zui小基體厚度 Fe:0.2mm
●溫度補(bǔ)償范圍 0-60℃
●標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、2節(jié)5號(hào)電池、鐵基板、說(shuō)明書(shū)