Minitest4100配不同探頭可測(cè)量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）： 鋼鐵基體上的非磁性覆層有色金屬上的絕緣覆層，絕緣基體上的有色金屬覆層。

涂層測(cè)厚儀Minitest4100-技術(shù)參數(shù)：

涂層測(cè)厚儀Minitest4100-探頭參數(shù)：

探頭 量程 低端 誤差 zui小曲率半徑 zui小測(cè)量 zui小基 探頭尺寸
分辨率 （凸/凹） 區(qū)域直徑 體厚度
磁 F05 0-500μm 0.1μm ±（1%±0.7μm） 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
感 F1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
應(yīng) F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm
法 F2/90 0-2000μm 0.2μm ±（1%±1μm） 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm
F3 0-3000μm 0.2μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F10 0-10mm 5μm ±（1%±10μm） 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
F20 0-20mm 10μm ±（1%±10μm） 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
F50 0-50mm 10μm ±（3%±50μm） 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm
兩 FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm
用 FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 平面 30mm F0.5mm/N50μm φ21x89mm
FN2 0-2000μm 0.2μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm
電 N02 0-200μm 0.1μm ±（1%±0.5μm） 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
渦 N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±（1%±1μm） 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
流 N1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
法 N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm
N2 0-2000μm 0.2μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 5mm 50μm φ15x62mm
N2/90 0-2000μm 0.2μm ±（1%±1μm） 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm
N10 0-10mm 10μm ±（1%±25μm） 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
N20 0-20mm 10μm ±（1%±50μm） 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
N100 0-100mm 100μm ±（1%±0.3mm） 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
CN02 10-200μm 0.2μm ±（1%±1μm） 平面 7mm 無(wú)限制 φ17x80mm

涂層測(cè)厚儀Minitest4100N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻，CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

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