低溫實驗室適用于國防工業(yè),工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑膠、化工業(yè)、食品業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業(yè)及相關產(chǎn)品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗（沖擊），適應于儀器、儀表、電工、.gdwcjx.電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.  

低溫實驗室 技術參數(shù)：  

1、溫度范圍：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃  

2、溫度上限：+200℃  

3、溫度下限：-80℃  

4、溫度偏差：±2℃  

5、溫度波動度：±0.5℃  

6、溫度恢復時間：5min  

7、溫度恢復條件：高溫+150℃保溫≥35min低溫-40℃保溫≥30min.  

8、試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動  

9、試品重量：≤3kg  

10、高溫室升溫時間：35min（+20℃～+170℃）  

11、低溫室降溫時間：70min（+20℃～-55℃）  

12、噪音：（dB）≤65  

低溫實驗室 設備制冷系統(tǒng)：  

1、制冷系統(tǒng)及壓縮機：為了保證試驗箱降溫速率和低溫度的要求，本試驗箱采用一套法國taikang全封閉二元復疊式制冷系統(tǒng)壓縮機所組成的二元復疊式制冷系統(tǒng)。  

2、制冷劑：采用美國DUPONT公司產(chǎn)R404A（低壓循環(huán)）、R23（高壓循環(huán)）環(huán)保制冷劑。  

3、制冷輔助件：膨脹閥（丹麥“DANFOSS”）電磁閥（日本）,過濾器（丹麥“DANFOSS”）,壓力控制器（丹麥“DANFOSS”）,油壓保護（丹麥“DANFOSS”）,截止閥（意大利CAS）,油分離器（歐美ALCO）等制冷配件均采用進口件.  

4、冷卻方式：風冷或水冷。  

設備結構：  

1、試驗箱結構形式：試驗箱采用整體式組合結構形式，既試驗箱由位于后下部的高溫試驗箱，位于后上部的低溫試驗箱體位于后部的制冷機組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜（系統(tǒng)）所組成。此方式箱體占地面積小結構緊湊、外形美觀，制冷機組置于獨立的機組箱體內(nèi)。  

2、箱體外材料：冷軋板防靜電噴塑烤漆處理／SUS304不銹鋼板  

3、箱體內(nèi)材料：SUS304鏡面不銹鋼板／SUS304不銹鋼板  

4、保溫材料：硬質(zhì)Polurethane發(fā)泡１級  

5、電纜穿線孔：在樣品架的上部與高溫試驗箱體部設置有滑動式電纜穿線管。  

6、樣品架承重：≥3Kｇ.  

低溫實驗室 運用范圍：  

1、主要測試材料對*溫或極低溫的抵抗力，這種情況類似于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形，冷熱沖擊試驗能使各種物品在短的時間內(nèi)完成測試。  

2、熱震中產(chǎn)生的化這變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其它物理性值的改變而引起的，采用TS系統(tǒng)，各類產(chǎn)品才能獲得*之信賴。熱震的效果包括成品裂開或破層及位移等所引起的電化學變化，TST系統(tǒng)的全數(shù)位自動控制，將使您操作簡易，得心應手。  

3、冷熱沖擊箱用來測試復合材料及材料結構，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，即以在短時間內(nèi)試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。  

低溫實驗室 設備測控系統(tǒng)：  

1、控制裝置：控制器采用進口可編程PLC及進口LCD彩色液晶觸摸屏雙回路溫度控制系統(tǒng)、其控制  

顯示器采用進口彩色液晶觸摸大屏幕（5.7、7.5英寸或10.4英寸）控制顯示屏該控制器采用中文操作顯  

示界面顯示，可顯示、設定試驗參數(shù)、曲線、總運行時間、段總運行時間等。控制程序的編制采用人  

機對話方式，界面友好，僅需設定溫度就可實現(xiàn)制冷機的自動運行功能。  

2、運行方式：程式運行或定值運行均可  

3、設備具備獨立的工作時間累計時器。  

低溫實驗室 滿足標準：  

1.GB10589-89低溫試驗箱技術條件  

2.GB11158-89高溫試驗箱技術條件  

3.GB10592-89高低溫試驗箱技術條件  

4.GB2423.1低溫試驗、試驗A  

5.GB2423.2高溫試驗、試驗B  

6.GB2423.22溫度變化試驗、試驗N  

7.IEC68-2-14試驗N  

8.國GJB150.3-86  

9.國GJB150.4-86  

10.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法  

11.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法