一、溫度沖擊試驗(yàn)箱用途 

溫度沖擊試驗(yàn)箱適用于國(guó)防工業(yè),工業(yè)、兵工業(yè)、LED、自動(dòng)化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)(沖擊)，適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。

二、溫度沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)

1.產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝、選材考究，具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。  

2.設(shè)備分為高溫箱低溫箱測(cè)試箱三部分，采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物*靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷，熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的。

3.采用采用的計(jì)測(cè)裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可靠，中、英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。

4.具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)，大程度上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，減輕操作人員工作量，可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)﹑停止工作運(yùn)行；

5.箱體左側(cè)具一直徑50mm之測(cè)試孔，可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。

6.可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。 

7.具備全自動(dòng)，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制,溫度控制精度高 

8.科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角完備的安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設(shè)備的*可靠性。 

9.可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)(手動(dòng)) 除霜. 

10.出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測(cè)控制，風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為5秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成。 

11.運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示發(fā)生異常狀況時(shí),螢?zāi)簧霞纯套詣?dòng)顯示故障點(diǎn)及原因和提供排除故障的方法。 

12.冷凍系統(tǒng)采用復(fù)迭高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，冷凍機(jī)組采用歐美*壓縮機(jī)，并采用對(duì)臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保(HFC)制冷劑R404A，R23. 

三、溫度沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1. GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2. GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3. GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4. GB2423.1 低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A

5. GB2423.2 高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B

6. GB2423.22 溫度變化試驗(yàn),試驗(yàn)N

7. IEC68-2-14 試驗(yàn)N

8. 國(guó)軍標(biāo)GJB150.3-86

9. 國(guó)軍標(biāo)GJB150.4-86     

10.GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 　

11.GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

四、溫度沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

1.沖擊溫度范圍:-20℃～+150℃，-40℃～+150℃ ，-55℃～+150℃ ，-65℃～+150℃ 

2.高溫槽溫度上限：+155℃ 

3.低溫槽溫度下限：-80℃ 

4.溫度偏差：±2℃ 

5.溫度波動(dòng)度：±0.5℃ 

6.溫度恢復(fù)時(shí)間：5min 

7.溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min.

8.試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)   

9.試品重量：≤3kg 

10.高溫室升溫時(shí)間：45min (+25℃～+155℃) 

11.低溫室降溫時(shí)間：95min (+25℃～-80℃) 

12.噪音：(dB)≤65 

13.使用電源：AC3￠5W380V±10%，50/60Hz