可程式冷熱沖擊箱介紹：

　　可程式冷熱沖擊箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設備；適用于電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗；特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電腦、手機等產品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。

可程式冷熱沖擊箱技術參數(shù)：

　　設備型號：HL-80

　　溫度范圍：-70℃～+100℃

　　溫度偏差：≤±2.0℃

　　溫度波動度：≤±0.5℃

　　升溫時間：2~3℃/min（設備空載時）

　　降溫時間：0.7~1℃/min（設備空載時）

　　工作室尺寸（深×寬×高）：400*400*500mm

　　外型尺寸（深×寬×高）：950*950*1360mm

可程式冷熱沖擊箱符合標準:

　　低溫試驗箱技術條件:GB10589-2006

　　高低溫試驗箱技術條件:GB10592-2006

　　高溫試驗箱技術條件:GB11158-2006

　　低溫試驗方法A:GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)

　　高溫試驗方法B:GB2423.2-2001(IEC68-2-2)

　　高低溫交變試驗（僅濕熱型）:GB/T2423.4-1993

　　高溫試驗方法:GJBl50.3-86(MIL-STD-810D)

　　低溫試驗方法:GJBl50.4-86(MIL-STD-810D)

　　電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備:GB/T5170.2-1996

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