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　　太陽(yáng)電纜濕冷凍測(cè)試

一、太陽(yáng)電纜濕冷凍測(cè)試產(chǎn)品用途：
　　
　　本試驗(yàn)設(shè)備適用：電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高、低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
　　
　　本試驗(yàn)設(shè)備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
　　
　　太陽(yáng)電纜濕冷凍測(cè)試的設(shè)計(jì)使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗(yàn)是仿真陸上太陽(yáng)光電模塊（晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型）的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，讓模塊能夠在一般氣候下*操作20年以上，規(guī)范要求太陽(yáng)能電池需進(jìn)行：Thermalcycletest（溫度循環(huán)測(cè)試）、Humidity-freezetest（濕冷凍測(cè)試）、DampHeat（濕熱測(cè)試），以確認(rèn)太陽(yáng)能電池能夠承受高溫高濕之后隨級(jí)的零下溫度影響，以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效，另外確定太陽(yáng)能電池能夠抵抗?jié)駳?滲透之能力，其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與能力需滿足相關(guān)
　　
　　二、太陽(yáng)電纜濕冷凍測(cè)試規(guī)范：
　　
　?。↖EC61215,IEC61646,UL1703，IEC62108,IEEE1513，IEC61730）的要求才行。
　　
　　3.相關(guān)規(guī)范資料介紹硅晶太陽(yáng)能:IEC61215、UL1703、GB9535
　　
　　薄膜太陽(yáng)能:IEC61646、GB18911
　　
　　聚光太陽(yáng)能:IEC62108、IEEE1513
　　
　　umidity-freezetest（濕冷凍測(cè)試）
　　
　　目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。
　　
　三、太陽(yáng)電纜濕冷凍測(cè)試性能參數(shù)：
　　
　　1.內(nèi)箱尺寸：W600XH600XD700mm
　　
　　2.外型尺寸：W1600XH1800XD1650mm
　　
　　3.重量（約）：500㎏
　　
　　4.測(cè)試環(huán)境條件下：環(huán)境溫度為 25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下
　　
　　5.測(cè)試方法：GB/T5170.2-1996溫度試驗(yàn)設(shè)備/GB/T5170.5-1996濕熱試驗(yàn)設(shè)備（僅濕熱型）
　　
　　6.溫度范圍：負(fù)載-40℃→ 85℃/（空載－70℃到150℃）
　　
　　7.溫度波動(dòng)：±0.5℃
　　
　　8.溫度分布精度：±2.0℃
　　
　　9.濕度范圍：20%～98%R.H
　　
　　10.濕度波動(dòng)：±2.5%R.H.
　　
　　11.濕度分布精度：±4.0%.
　　
　　12.升溫時(shí)間：0℃→ 85℃升溫1.4℃/min線性可調(diào)（負(fù)載）；-40℃→ 0℃升溫1.4℃/min線性可調(diào)（負(fù)載）
　　
　　13.降溫時(shí)間： 85℃→0℃降溫1.4℃/min線性可調(diào)（負(fù)載）； 0℃→-40℃降溫1.4℃/min線性可調(diào)（負(fù)載）（負(fù)載,控制系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)節(jié)）
　　
　　14.負(fù)載情況：尺寸為H3.2×W300×D300mm40塊組件,無(wú)發(fā)熱。
　　
　　15.產(chǎn)品測(cè)試架：型，可同時(shí)放置40片厚度相同寬度及高低不同的產(chǎn)品；組件底部及上部接觸部位采用纖維材料，有效避免熱傳導(dǎo)，使組件處于絕熱狀態(tài)。