半導體行業(yè)要求提高推動高溫高壓蒸煮鍋的發(fā)展 

隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的高壓試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的高溫高壓蒸煮鍋試驗方法。高溫高壓蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和（HAST）現(xiàn)在高溫高壓蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。  

高溫高壓蒸煮鍋用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。  

高溫高壓蒸煮鍋的目的是提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度）與工作應(yīng)力（施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。 

高溫高壓蒸煮鍋  產(chǎn)品特點：  

1、圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計方便使用者取置待測品  

2、馬達驅(qū)動磁性風扇機構(gòu)循環(huán)（溫度/濕度分布均勻佳）  

3、安全程序自動停機,自動泄壓,自動破真空,自動給水  

4、HAST設(shè)備本體材質(zhì)SUS#316,外部包裝材質(zhì)SUS#304  

5、電磁風扇馬達循環(huán)裝置濕度分布均勻  

6、飽和或不飽和可程控模式  

7、溫度/濕度/濕球/溫度/壓力/電壓顯示  

高溫高壓蒸煮鍋 又稱為高壓加速老化試驗箱、高壓加速壽命測試儀等，艾思荔檢測儀器對高溫高壓蒸煮鍋的研發(fā)和生產(chǎn)技術(shù)已十分成熟，可為您定制非標型號高溫高壓蒸煮鍋。

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