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炭黑單顆粒強(qiáng)度分析儀

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炭黑單顆粒強(qiáng)度分析儀

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HITEC 制造的炭黑單顆粒強(qiáng)度分析儀IPHT是用來(lái)測(cè)定造粒炭黑的粒子破碎強(qiáng)度的儀器。測(cè)試系統(tǒng)為生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制和產(chǎn)品的開發(fā)提供了強(qiáng)有力的手段。

詳細(xì)介紹

HITEC 制造的炭黑單顆粒強(qiáng)度分析儀IPHT是用來(lái)測(cè)定造粒炭黑的粒子破碎強(qiáng)度的儀器。它是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ASTM D5230和標(biāo)準(zhǔn)ASTM D3313制造的。炭黑單顆粒強(qiáng)度分析儀測(cè)試系統(tǒng)為生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制和產(chǎn)品的開發(fā)提供了強(qiáng)有力的手段。

測(cè)試數(shù)據(jù)：測(cè)試每個(gè)顆粒的硬度、直徑
結(jié)構(gòu)緊湊：體積很小，放在桌子上即可操作。
運(yùn)行方式：可以采用手動(dòng)方式單個(gè)進(jìn)行測(cè)試；也可以按照設(shè)定的數(shù)量連續(xù)的自動(dòng)進(jìn)行測(cè)試，并計(jì)算和統(tǒng)計(jì)出測(cè)量結(jié)果。
運(yùn)行環(huán)境：?jiǎn)晤w粒強(qiáng)度測(cè)試儀可以在粉塵環(huán)境下測(cè)量。但配套的計(jì)算機(jī)要求在清潔的環(huán)境下運(yùn)行。
減震要求：特別設(shè)計(jì)的減震臺(tái)面 IPHT-DTBL被要求安裝在測(cè)試系統(tǒng)的底部，以減少外界振動(dòng)產(chǎn)生的干擾。這個(gè)設(shè)備是我們非常*用戶使用的一個(gè)關(guān)鍵設(shè)備。
取樣器：IPHT-RASB隨機(jī)取樣臺(tái)有14樣品工位，這是一個(gè)用戶可選的設(shè)備，可以隨時(shí)裝上或隨時(shí)移開。但它對(duì)于測(cè)試的樣品數(shù)量比較大的客戶是非常有用的。它采用氣動(dòng)和步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)的自動(dòng)工作方式，工作時(shí)需要接通大約6公斤左右的壓縮空氣。甚至在測(cè)試過程中也可以添加測(cè)試樣品，修改測(cè)試順序等。
與計(jì)算機(jī)的連接：主系統(tǒng)IPHT-BASU與計(jì)算機(jī)通過串口或局域網(wǎng)聯(lián)接，通過串口每臺(tái)計(jì)算機(jī)可以連接4臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)。
數(shù)據(jù)處理軟件：涵蓋了ASTM標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的所有測(cè)試要求，這個(gè)軟件系統(tǒng)對(duì)過程數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量和計(jì)算。根據(jù)ASTM D5230 和 D3313規(guī)定。該儀器可采用恒定壓迫速度測(cè)試方式（ASTM D5230）和恒定壓迫力量（ASTM D3313）測(cè)試方式。

單顆粒強(qiáng)度測(cè)試儀技術(shù)數(shù)據(jù)

采用標(biāo)準(zhǔn)	電力要求	測(cè)試力的范圍	精度	顆粒的大小	精度	步進(jìn)電機(jī)zui小行進(jìn)距離	壓縮方式	取樣器
ASTM D5230，D3313	單相 220/240V 50Hz,110v 60hz	0-300g	+/- 1g	0.8-3 mm	+/- 0.02	0.001172	恒定速度壓縮 ASTM D5230恒定壓力壓縮 ASTM D3313	隨機(jī)的14個(gè)工位取