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在國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品中，測(cè)量精度zui高（*），速度zui快，穩(wěn)定性。且操作方便，外形美觀。主要測(cè)量金屬表面涂、鍍層的厚度。

本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。配置不同的探頭，適用于不同場(chǎng)合。它是無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的*儀器。

功能特點(diǎn)
●兩種工作方式：直接方式和成組方式轉(zhuǎn)換
●兩種測(cè)量方式：?jiǎn)未螠y(cè)量和連續(xù)測(cè)量（大面積內(nèi)快速獲取讀數(shù)）轉(zhuǎn)換公、英制轉(zhuǎn)換
●開(kāi)機(jī)后顯示zui后一個(gè)讀數(shù)
●背景照明（可選擇）
●聲音提示數(shù)據(jù)已讀取
●可設(shè)置數(shù)據(jù)的測(cè)量范圍，聲音提示數(shù)據(jù)超出允許的測(cè)量范圍
●具有測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能
●具有測(cè)量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
●具有測(cè)量數(shù)據(jù)的刪除功能（刪除當(dāng)前測(cè)量值，刪除當(dāng)前組測(cè)量數(shù)據(jù)，刪除當(dāng)前組所有數(shù)據(jù)）
●可存儲(chǔ)5組數(shù)據(jù)，每組100個(gè)，共500個(gè)數(shù)據(jù)
●全中文菜單
●多種校準(zhǔn)方式
●具有手動(dòng)和自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
●LT-100-3可使用所有探頭
●LT-100-3配有RS-232接口，用于將個(gè)人電腦或微型打印機(jī)聯(lián)接
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、探頭（F1或N1）、基體、試塊、5試片（50μm、100μm、200μm、500、1000μm）、9V堿性電池
選配件：打印機(jī)、各種探頭

LT系列儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)

探頭

F400

F1/90

F10

N400

CN02

測(cè)量原理

磁性

渦流

測(cè)量范圍（μm）

0～400

0～1250

0～10mm

0～400

0～12500

10～200

測(cè)量精度μm

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±[（1～3）%H+0.7]

±（3%H+1）

±（3%H+10）

±（3%H+1）

±（3%H+1.5）

±（3%H+1）

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±（1～3％H+0.7）

±[（1~3）%H+1]

±[（1～3）%H+10]

±[（1～3）%H+1]

±[（1～3）%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

zui小曲率半徑（mm）

（凸）1

1.5

平直

1.5

僅為平面

zui小面積直徑（mm）

￠3

￠7

￠40

￠4

￠5

￠7

基本臨界厚度（mm）

0.2

0.5

0.3

無(wú)限制

測(cè)頭選用參考表

覆蓋層基體		有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等）		非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
		覆蓋層厚度不超過(guò)100μm	覆蓋層厚度超過(guò)100μm	覆蓋層厚度不超過(guò)100μm	覆蓋層厚度超過(guò)100μm
如鐵、鋼等磁性金屬	被測(cè)面積直徑大于30mm	F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm	F1型測(cè)頭 0～1250μm F10型測(cè)頭 0～10μm	F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm	F1型測(cè)頭 0～1250μm F10型測(cè)頭 0～10μm
	被測(cè)面積直徑小于30mm	F400型測(cè)頭0～400μm	F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm	F400型測(cè)頭0～400μm	F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬	被測(cè)面積直徑大于10mm	N1型測(cè)頭0～1250μm N400測(cè)頭0～400μm		僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0～40μm N400測(cè)頭0～40μm
	被測(cè)面積直徑大于10mm	N400測(cè)頭0～400μm		N400測(cè)頭0～40μm
塑料、印刷線路非金屬基體	被測(cè)面積直徑大于7mm	--	--	CN02型測(cè)頭10～200μm