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產(chǎn)品型號Panametrics 35DL
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地深圳市
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更新時間:2018-05-14 09:00:00瀏覽次數(shù):482次
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Panametrics 35DL超聲波測厚儀在大多數(shù)應用中都可應用35型和35DL型
35型和35DL型超聲波測厚儀使用頻率范圍為2.25~30 MHz的探頭,因此這些通用型測厚儀可完成大多數(shù)從極薄到極厚材料的厚度測厚。一般來說,探頭頻率越高而直徑越小,對較薄或彎曲的工件測量的精度越高。
美國泛美超聲波測厚儀系列的特性
所有型號的標準配置均包含聲速和減縮率測量。
? 可測厚度范圍寬:0.08 mm~635.0 mm(0.0030 in.~25.0 in.),取決于儀器和材料。
? 采用接觸式、延遲線式、水浸式探頭。
? 自動調(diào)用功能可調(diào)用默認設(shè)置和自定義設(shè)置。
? 手持式,僅重0.24公斤(8.5盎司)。
? zui小/zui大模式
? 高-低報警
? 英制和公制顯示(英寸或毫米)
? 多種語言用戶界面
? *電池
? 從薄到厚的大多數(shù)材料
? 薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道、及板材
? 薄如0.10毫米(0.004英寸)的金屬容器、鋼卷材及機加工部件
? 汽缸孔、渦輪葉片
? 玻璃燈泡、瓶子
? 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
? 半徑較小的曲面部分或容器
? 分辨率可達0.001毫米或0.0001英寸
| 利用減縮率,可測量金屬材料因彎曲而變薄的臨界厚度值。 |
所有儀器型號的標準配置都具有差分模式和減縮率模式。差分模式顯示實測厚度與預設(shè)厚度之間的差值變化??s減率計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型的應用是對為制造車身面板而彎曲成形的鋼板進行測量。
| 可直接顯示聲速數(shù)值的聲速測量模式 |
Panametrics 35DL超聲波測厚儀材料聲速測量
所有Panametrics 35型儀器均具有測量材料聲速的性能。在材料聲速與其它特性可能有關(guān)系的應用中,這個標準功能非常有用。典型應用包括監(jiān)測金屬鑄件的球化程度,以及監(jiān)測復合材料/玻璃纖維材料的密度變化。Olympus提供一個數(shù)字卡尺,用于自動傳輸測量厚度值。
Panametrics 35DL超聲波測厚儀自動調(diào)用功能可簡化測量操作
自動調(diào)用功能可使厚度測量簡化。在選擇了任何一種所存的探頭時,35型儀器都可調(diào)用相關(guān)內(nèi)置探頭的所有參數(shù)。
Panametrics 35DL超聲波測厚儀存儲的標準設(shè)置標準設(shè)置包括大多數(shù)常用的探頭。
Panametrics 35DL超聲波測厚儀存儲的自定義設(shè)置在標準設(shè)置不能滿足特殊的應用需求時,這些測厚儀可以創(chuàng)建、存儲和調(diào)用多達20個自定義設(shè)置(35型和35HP型可調(diào)用10個自定義設(shè)置)
| 在這種基本應用中不可使用測微計。然而,可以使用配有M208探頭的35型儀器,在不損壞玻璃的情況下,進行校準精度達0.001毫米(0.0001英寸)的厚度測量。 |
| 超薄鋼板(0.10毫米或0.004英寸)的厚度和波形。 |
分辨率(通過鍵區(qū)可選): | ||
低: | 0.1 mm | (0.01 in.) |
標準: | 0.01 mm | (0.001 in.) |
高: | 0.001 mm | (0.0001 in.) (35型和35DL型) |
差分模式:顯示實際測量值和參考值之間的厚度差。
縮減率模式:顯示厚度數(shù)值及實測厚度與參考厚度的百分比差值。
自動調(diào)用功能:自動為各種默認的和自定義的探頭設(shè)置調(diào)節(jié)內(nèi)部參數(shù)。
Panametrics 35DL超聲波測厚儀標準附件
手腕帶、3節(jié)AA電池、試塊、探頭線纜、耦合劑、便攜箱、指導手冊、兩年有限保修。
: 路鵬輝
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