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當前位置:北京北信科遠儀器有限責任公司>>檢測分析儀器>>在線檢測產(chǎn)品>> JC06-WDI硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊測定儀 硅片位錯層錯檢測儀

硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊測定儀 硅片位錯層錯檢測儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號JC06-WDI

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時間:2021-05-13 19:10:07瀏覽次數(shù):742次

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硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊測定儀 硅片位錯層錯檢測儀
于對硅片的缺陷進行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。

硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊測定儀 硅片位錯層錯檢測儀

型號JC06-WDI

硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。

實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計,提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備,能更好的觀測和保存研究結(jié)果;

硅片缺陷觀測儀-產(chǎn)品特點

適用于對硅片的缺陷觀察效果,非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等;

使硅片缺陷觀察工作簡單化,準確化,同時極大程度降低此項工作強度;

實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計,提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備,能更好的觀測和保存研究結(jié)果;

使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有體積小,技術(shù)優(yōu)秀,像素較高,成像清晰、線條細膩、色彩豐富;

傳輸接口為 USB2.0 高速接口,軟件模塊化設計;

有效分辨率為 200 萬像素;

所配軟件能兼容 windows 2000 windows XP 操作系統(tǒng)。

 

 

 

 

 

 

  

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