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共立KEW4300接地電阻測試儀特點：1、追求適用便利的流線型設(shè)計，設(shè)計符合安全規(guī)格IEC61010-1 CAT.II 300V 污染度22、 30V以上的電壓...

直流低電阻測試儀 智能型直流低電阻測試儀 導體電阻測試儀 微歐計5位LED顯示，穩(wěn)定性好。Z小的分辨率：1μΩ 直讀值與百分比誤差顯示、上超、下超、合格分選及訊...

直流低電阻測試儀 低電阻測試儀 導體電阻率測試 導體電阻測試儀 微歐計5位LED顯示，穩(wěn)定性好。Z小的分辨率：1μΩ 直讀值與百分比誤差顯示、上超、下超、合格分...

經(jīng)濟型表面電阻和體積電阻測試儀 數(shù)顯絕緣電阻測試儀 三環(huán)電極適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠...

數(shù)顯絕緣電阻測試儀 經(jīng)濟型表面電阻和體積電阻測試儀 三環(huán)電極適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠...

粉末高溫阻抗測試系統(tǒng) 高溫粉末電阻率測試系統(tǒng)本機提供一種在高溫環(huán)境下測試粉體材料電性能，分析粉體在高溫環(huán)境下電阻，電阻率（電導率），與壓強和溫度的實時變化關(guān)系，...

導體材料高溫電阻率測試系統(tǒng) 電阻率測試系統(tǒng) 高溫測試探針采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體及導體材料因溫度變化對...

高溫四探針電阻率測試系統(tǒng) 四探針雙電測定儀 雙電測數(shù)字式四探針測試儀采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置的高溫測試探針治具，滿足半導...

經(jīng)濟型電碳制品電阻率測試儀 輸出12v 電炭制品電阻率的測定本標準適用于電刷及其他電炭制品電阻率的測定.

電碳制品電阻率測試儀 輸出12v電炭制品電阻率測試儀型號：BXA59本標準適用于電刷及其他電炭制品電阻率的測定.

超高阻雙電四探針測試儀 四探針測定儀本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率，Z大可以測試到1010Ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的Z大方阻值

超低阻雙電四探針測試儀 覆蓋膜四探針測試儀本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率，Z小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的Z小值，采用高精度A...

雙電四探針方阻電阻率測試儀 半導體材料的方塊電阻 四探針電阻率 四探針方阻電阻率測試儀本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和...

雙電四探針方阻電阻率測試儀 粉末電導率測試儀 四探針方阻電阻率測試儀雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀 器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國...

雙電四探針方阻電阻率測試儀 塑料薄膜金屬鍍層方塊電阻測試儀 探針電阻率/方阻測試儀雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀 器設(shè)計符合單晶硅...

雙電四探針方阻電阻率測試儀 單晶硅四探針測試儀 導體材料電阻率及方塊電阻該儀 器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針...

雙電四探針方阻電阻率測試儀 四探針雙電測量儀本儀器是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用...

普通四探針方阻電阻率測試儀【小機箱】 導電（屏蔽）布電阻率測試儀四探針法按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1...

普通四探針方阻電阻率測試儀 導電橡膠方阻儀 方塊電阻測試儀按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T1551-2009...

普通四探針方阻電阻率測試儀【小機箱】 涂布層四探針法電導率測試儀本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)...