恒溫恒濕試驗(yàn)箱又稱高低溫濕熱試驗(yàn)箱，是用于試驗(yàn)各種材料(或產(chǎn)品)耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。廣泛應(yīng)用于電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品的質(zhì)量檢測與研發(fā)。不同型號(hào)不同規(guī)格的試驗(yàn)箱可滿足的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)均不同，對(duì)于40D40D恒溫恒濕試驗(yàn)箱，因其溫度范圍-40~150℃,濕度20~98%RH的溫濕度特點(diǎn)，使其可滿足以下試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
3. GJB150.3A-2009 高溫試驗(yàn)方法
4. GJB150.4A-2009 低溫試驗(yàn)方法
5. GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
6. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
7. GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8. GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3) 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
9. GJB150.9A-2009 濕熱試驗(yàn)方法
10.G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005試驗(yàn)Db:交變濕熱方法
11.GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
12.GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
13.GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度 濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
14.GBT 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測量
除以上國標(biāo)外，還有一些標(biāo)準(zhǔn)等，具體的可以參考其它標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)環(huán)境溫濕度的要求進(jìn)行，只要溫濕度及產(chǎn)品的尺寸在40D恒溫恒濕試驗(yàn)箱范圍內(nèi)，那該設(shè)備就可滿足其試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)!
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