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光伏組件老化測(cè)試設(shè)備

      光伏組件（太陽(yáng)能電池板）的設(shè)計(jì)使用年限大約是20～30年，而可靠性中的熱性能試驗(yàn)是模擬地面用光伏組件的設(shè)計(jì)驗(yàn)證,讓組件能夠在一般氣候下長(zhǎng)期操作20年以上，規(guī)范要求組件需進(jìn)行:Thermalcycle test熱循環(huán)測(cè)試（-40℃~+85℃ 50~200次，長(zhǎng)1200H）、Humidity-freeze test濕冷凍測(cè)試（85℃ 85%~-40℃ 10次，約240H）、Damp Heat濕熱測(cè)試 （85℃ 85%，1000H），以確認(rèn)組件能夠承受高溫高濕之后隨之的負(fù)溫度影響,以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效，另外確定光伏組件曝露在高濕度下而產(chǎn)生的熱應(yīng)力及能夠抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力.其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與能力需滿足IEC61215、IEC61646 的相關(guān)溫濕度變化曲線的要求。光伏組件環(huán)境試驗(yàn)機(jī)的技術(shù)難點(diǎn)就在于溫度循環(huán)試驗(yàn)和濕凍循環(huán)這兩個(gè)試驗(yàn)曲線針對(duì)太陽(yáng)能光伏組件，

      艾思荔檢測(cè)儀器公司研發(fā)了于檢測(cè)太陽(yáng)能組件熱循環(huán)、濕凍循環(huán)、高溫高濕雙85測(cè)試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。光伏組件循環(huán)試驗(yàn)箱依據(jù)光伏組件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC61215、IEC61646、UL1703、EN1279濕溫度曲線要求設(shè)計(jì)。艾思荔儀器公司生產(chǎn)的光伏組件循環(huán)試驗(yàn)機(jī)可做光伏組件熱循環(huán)試驗(yàn)、濕凍循環(huán)曲線、雙85測(cè)試。具有溫濕度同度斜率的功能。

老化測(cè)試設(shè)備

目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。
老化測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品用途：太陽(yáng)能電池模塊的設(shè)計(jì)使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗(yàn)是仿真陸上太陽(yáng)光電模塊（晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型）的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，讓模塊能夠在一般氣候下長(zhǎng)期操作20年以上，規(guī)范要求太陽(yáng)能電池需進(jìn)行：Thermal cycle test（溫度循環(huán)測(cè)試）、Humidity-freeze test（濕冷凍測(cè)試）、Damp Heat（濕熱測(cè)試），以確認(rèn)太陽(yáng)能電池能夠承受高溫高濕之后隨級(jí)的零下溫度影響，以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效，另外確定太陽(yáng)能電池能夠抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。
老化測(cè)試設(shè)備滿足相關(guān)規(guī)范：
（IEC61215 , IEC61646 , UL1703，IEC62108 , IEEE1513 ，IEC61730 ）
相關(guān)規(guī)范資料介紹：
硅晶太陽(yáng)能:IEC61215、UL1703 、GB9535
薄膜太陽(yáng)能:IEC61646、GB18911
聚光太陽(yáng)能:IEC62108 、IEEE1513 humidity-freeze test（濕冷凍測(cè)試）
老化測(cè)試設(shè)備技術(shù)規(guī)格：
產(chǎn)品型號(hào)：TH-容量
內(nèi)箱尺寸：按客戶要求外型尺寸：按客戶要求制造

光伏組件老化測(cè)試設(shè)備性能參數(shù)：
▲測(cè)試環(huán)境條件下：環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下
▲測(cè)試方法：GB/T 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備/GB/T 5170.5-1996 濕熱試驗(yàn)設(shè)備（僅濕熱型）
▲溫度范圍：負(fù)載-40℃→+85℃ /（空載－70℃到150℃）
▲溫度波動(dòng)：±0.5℃
▲溫度分布精度：±2.0℃
▲濕度范圍：20%～98%R.H
▲濕度波動(dòng)：±2.5%R.H.
▲濕度分布精度：±4.0%.

專業(yè)生產(chǎn)、銷售太陽(yáng)能光伏組件試驗(yàn)箱：紫外老化試驗(yàn)箱、濕熱試驗(yàn)箱、雙85試驗(yàn)箱、雙85實(shí)驗(yàn)箱、濕凍試驗(yàn)箱、濕冷凍試驗(yàn)箱、高溫高濕試驗(yàn)箱、PCT試驗(yàn)箱、HAST試驗(yàn)箱等。