电脑芯片潮态测试箱技术参数-高低温试验箱 返回列表页

电脑芯片潮态测试箱技术参数

冷热冲击试验箱也叫高低温冲击试验箱，该设备主要的定义是“温度冲击"，设备能在极短的时间里面，执行高温降至低温，也可以从低温升至高温。

一、冷热冲击试验箱升降温速录分析：

冷热冲击试验箱它的结构基本分为二箱式和三箱式两种；它的升降温速率（冲击速率）国标是有严格规定的，一般无论二箱式还是三箱式动作时间必需小于15秒，恢复时间小于5分钟。
快速升降温（快速温变试验箱），它一般是一个箱体构成，但特殊的升降温要求（升降温速率要求过高时）时，也会采用两个箱体；它的大升降温速率一般大于国标规定的范围，常见的有6摄氏度/分钟至15摄氏度/分钟的升降温速率，但其速率可以像普通试验箱一样，通过仪表控制任意设定其速率。

二、冷热冲击试验箱升降温速率数据

1 、温度冲击范围：-70℃、-60℃、-55℃、-40℃～+100、125、150、180℃
2 、温度波动度：±0.5℃
3 、温度偏差：≤2℃
4 、转换时间：≤5秒
5 、温度稳定时间：≤5分钟

三、冷热冲击试验箱技术特性

满足标准：产品满足CNSMIL、IEC、JIS、等标准
冷热冲击试验箱主要技术指标：
冷热温度冲击试验箱/主要技术指标：
工作室尺寸： 400×400×500mm; （深×宽×高）
样品架尺寸:150×150mm;
温度恢复时间： 5min;
样品架转换时间：≤10s;
冲击方式：三箱高低温自动程式转换方式

本产品严格符合GB/T5170.5-96、GB10586-89、GB/T2423.3-1993等标准，也可按客户的要求制造非标准产品;我公司试验箱已通过国家环境试验设备检测中心检测合格。

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