導(dǎo)讀：磁性測(cè)厚儀，一體式儀器結(jié)構(gòu)，可以單手操作。采用電磁感應(yīng)原理，適用于測(cè)量各種磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度。以下我們來了解下磁性測(cè)厚儀測(cè)量儀器精度影響因素。
影響磁性測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素主要有：基體金屬磁性、基體金屬厚度、邊緣效應(yīng)、曲率、表面粗糙度、外界磁場(chǎng)、附著物質(zhì)、測(cè)頭壓力等。
影響測(cè)量精度幾個(gè)因素的詳細(xì)說明。
基體金屬磁性。磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響，為了避免熱處理及冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。也可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬厚度。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
邊緣效應(yīng)。儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
曲率。試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。
表面粗糙度。基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶劑溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
磁場(chǎng)。周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
附著物質(zhì)。對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
測(cè)頭壓力。測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此儀器測(cè)頭用彈簧保持一個(gè)基本恒定的壓力。
以上是對(duì)測(cè)厚儀測(cè)量精度影響因素的說明。另外，介紹下使用儀器時(shí)的注意事項(xiàng)。
基體金屬特性。標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
基體金屬厚度。檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度。
邊緣效應(yīng)。不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
曲率。不應(yīng)在試件彎曲表面上測(cè)量。
讀數(shù)次數(shù)。通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。
表面清潔度。測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕物質(zhì)等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
以上是對(duì)測(cè)厚儀器的影響因素的說明，及使用時(shí)應(yīng)注意的必要事項(xiàng)。希望能對(duì)想了解測(cè)厚儀的客戶有所幫助！更多測(cè)厚儀器、測(cè)量測(cè)距儀器等，請(qǐng)搜澳洲新儀器！
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